FT-340系列双电测四探针电阻率/方阻测试仪 瑞柯FT-340系列双电测四探针电阻率/方阻测试仪

FT-340系列双电测四探针电阻率/方阻测试仪
本仪器本仪器采用四探针双电测量方法，适用于生产企业、高等院校、科研部门，是检验和分析导体材料和半导体材料质量的一种重要的工具。本仪器配置各类测量装置可以测试不同材料。液晶显示，无需人工计算，并带有温度补偿功能，电阻率单位自动选择，仪器自动测量并根据测试结果自动转换量程，无需人工多次和重复设置。采用高精度AD芯片控制，恒流输出，结构合理、质量轻便，运输安全、使用方便；选配：配备软件可以由电脑操控，并保存和打印数据，自动生成报表；本仪器采用4.3吋大液晶屏幕显示，同时显示液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率，配置不同的测试治具可以满足不同材料的测试要求。测试治具可以根据产品及测试项目要求选购.
双电测数字式四探针测试仪是运用直线或方形四探针双位测量。该仪器设计符合单晶硅物理测试方法国家标准并参考美国 A.S.T.M 标准。利用电流探针、电压探针的变换，进行两次电测量，对数据进行双电测分析，自动消除样品几何尺寸、边界效应以及探针不等距和机械游移等因素对测量结果的影响，它与单电测直线或方形四探针相比，大大提高精确度，特别是适用于斜置式四探针对于微区的测试。
广泛用于：覆盖膜;导电高分子膜，高、低温电热膜;隔热、防辐射导电窗膜 导电(屏蔽)布、装饰膜、装饰纸;金属化标签、合金类箔膜;熔炼、烧结、溅射、涂覆、涂布层，电阻式、电容式触屏薄膜;电极涂料，其他半导体材料、薄膜材料方阻测试
硅晶块、晶片电阻率及扩散层、外延层、ITO导电箔膜、导电橡胶等材料方块电阻 半导体材料/晶圆、太阳能电池、电子元器件，导电薄膜（ITO导电膜玻璃等），金属膜，导电漆膜，蒸发铝膜，PCB铜箔膜，EMI涂层等物质的薄层电阻与电阻率 导电性油漆，导电性糊状物，导电性塑料，导电性橡胶，导电性薄膜，金属薄膜，抗静电材料， EMI 防护材料，导电性纤维，导电性陶瓷等

规格型号	FT-341	FT-342	FT-343	FT-345	FT-346	FT-347
1.方块电阻范围	10-5～2×105Ω/□	10-4～2×103Ω/□	10-3～2×105Ω/□	10-3～2×103Ω/□	10-2～2×105Ω/□	10-2～2×103Ω/□
2.电阻率范围	10-6～2×106Ω-cm	10-5～2×104-cm	10-4～2×106Ω-cm	10-4～2×104-cm	10-3～2×106Ω-cm	10-3～2×106Ω-cm
3.测试电流范围	0.1μA,μA,0μA，100µA，1mA，10mA，100 mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA	0.1μA,μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA	0.1μA，1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA	1μA，10μA，100µA，1mA，10mA，100 mA
4.电流精度	±0.1%读数	±0.2%读数	±0.2%读数	±0.3%读数	±0.3%读数	±0.3%读数
5.电阻精度	≤0.3%	≤0.3%	≤0.3%	≤0.5%	≤0.5%	≤0.5%
6.显示读数	大屏液晶显示：电阻、电阻率、方阻、温度、单位换算、温度系数、电流、电压、探针形状、探针间距、厚度 、电导率
7.测试方式	双电测量
8.工作电源	输入: AC 220V±10% ,50Hz  功 耗：<30W
9.整机不确定性误差	≤3%（标准样片结果）
10.选购功能	选购1.pc软件； 选购2.方形探头； 选购3.直线形探头； 选购4.测试平台
11.测试探头	探针间距选购：1mm；2mm；3mm三种规格; 探针材质选购：碳化钨针;白钢针；镀金磷铜半球形针

 
ROOKO/瑞柯品Pai，来自瑞柯仪器公司，一个专注于改变人们生活方式和品质的企业.
专业与精致并重；与智慧之原