产品信息
商品名称： 低阻抗率计 MCP-T610型 (桌上型) Loresta-GP 特色： 维持安定之高质量，依据世界之四探针理论之高精度之阻抗率计 单体使用系统构筑，符合JIS-K7194智能型，用于生产技术、质量管理、研究开发 适用对象： 导电性油漆、导电性浆糊、导电性塑胶、导电性橡胶、导电性薄膜、静电材料、EMI屏蔽材料、导电纤维、导电陶瓷、半导体材料、LCD、TFT、ITO玻璃、晶元、外壳、手提计算机外壳、磁碟片…等 显示器： 5.7吋液晶荧幕，[Ω], [Ω/sq.], and [Ω‧cm]一触直读数据 测定范围： 10-3～107Ω 测定精度： ±0.5% 储存数据： 1000组数据记忆功能, RS 232C线 样品保护功能： 测定电压 10V及 90V可选定切换 体积： 约 330 W× 270 D× 88 Hmm, 3.4KG 标准配备 ASP探头 MCP-TPO3P《四探针探头》 利用价值广泛标准探头JIS K7194对应， Pin间 5mm，Pin尖 0.37R×4支，压力 210g/支， 尺寸 35W×20L×35Hmm MCP-TRF1探头检验片 ASP, ESP探头用 (探头检验片于测定前检查之) 选购品 ESP探头 MCP-TPO8P《四探针探头》 不均一样品用 Pin间 5mm，Pin尖 Ø 2×4支，压力 240g/支， 尺寸 35W×20L×35Hmm PSP探头 MCP-TPO6P《四探针探头》 小样品或薄膜用 Pin间 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，压力 70g/支， 尺寸 Ø 10-20× L112mm QPP探头 MCP-TPQPP《四探针探头》 微小样品用 Pin间 1.5mm，Pin尖 0.26R×4支，压力 70g/支， 尺寸 Ø 10-20× L112mm NSCP探头 MCP-NSCP《四探针探头, 特殊用探头》 Silicone wafer用 Pin间 1.0mm，Pin尖 0.04R×4支，压力 250g/支 BSP探头 MCP-TPO5P《四探针探头, 特殊用探头》 大样品用 Pin间 2.2mm，Pin尖 0.37R×4支，压力 210g/支 TFP探头 MCP-TFP《四探针探头, 特殊用探头》 Silicone wafer或玻璃基板上之薄膜用 Pin间 1.0mm，Pin尖 0.15R×4支，压力 50g/支 AP探头 MCP-TPAP《二探针探头》 标准样式 Pin间 10mm，Pin尖 Ø 2×2支，压力 240g/支 BP探头 MCP-TPBP《二探针探头》 大样品用 Pin尖 Ø 2×2支，压力 240g/支 MCP-TRPS 探头检验片 PSP探头用 (探头检验片于测定前检查之) MCP-TRTF 探头检验片 TFP, NSCP探头用 (探头检验片于测定前检查之) MCP-FSO1 脚踏开关 MCP-STO3 绝缘板UFL 尺寸 300W×200L×10Hmm
