2016款 ec-770涂层测厚仪

产品简介:涂层测厚仪PosiTector 6000
美国DeFelsko公司新的PosiTector 6000系列涂镀层测厚仪仪器特点
简单
-直接测量(无需校准即可满足大部分应用)-单手菜单操作--灯光提示：便于在嘈杂的环境中确定已获得测量结果-重置功能可迅速将测厚仪还原到出厂状态
耐用
-耐磨探头-防酸、防油、防水、防溶剂、防尘，符合或超过IP5X标准-耐磨防腐蚀液晶显示屏-防撞击橡胶保护套
-每台仪器都有校准证书，符合NIST标准-内置温度补偿以确保测量精度-高分辨率模式可提高显示分辨率-符合美国和国际标准，包括ISO和ASTM标准
多功能
-多种校准模式，包括一点、两点、零点校准-多种语言显示，包括中文-背光显示-公制英制单位互换-可定制长75m的电缆线
技术参数
型号
标准探头
90°标准探头
测量铝基氧化膜
微型探头
一般厚探头
超厚探头
一体
分体
0°
45°
90°
一体
分体
F型
基本型
F1F2F3
FS1FS2FS3
FRS1FRS2FRS3
F0S1F0S2F0S3
F45S1F45S2F45S3
F90S1F90S2F90S3
FT1FT2FT3
FTS1FTS2FTS3
FKS1FKS2FKS3
统计型
存储型
N型
基本型
N1N2N3
NS1NS2NS3
NRS1NRS2NRS3
NAS1NAS2NAS3
N0S1N0S2N0S3
N45S1N45S2N45S3
N90S1N90S2N90S3
NKS1NKS2NKS3
统计型
存储型
FN型
基本型
FN1FN2FN3
FNS1FNS2FNS3
FNRS1FNRS2FNRS3

FNTS1FNTS2FNTS3
统计型
存储型
量程
0～1500μm
0～625μm
0～6mm
0～13mm
精度
0～50μm时±(1μm +1%);>50μm时±(2μm +1%)
0～100μm时±(0.5μm +1%);>100μm时±(2μm +3%)
0～2.5mm时±(0.01mm +1%);>2.5m时±(0.01mm +3%)
±(0.02mm+3%)
注：
1-基本型

赣州ec-770涂层测厚仪 镀层膜厚仪 产品的详细参数,实时报价多种型号图片

型号:JX134163记忆型涂层测厚仪QuaNix keyless	型号:JX201521CM-8000六角湿膜仪	型号:JX134180涂层测厚仪PosiTector 6000

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在以雄厚的技术底蕴在强化自主开发的同时，积极采用国内外先进技术标准，寻求推进与大专院校，科研单位的协作互补，以实现新产品开发的高起点，在交通部、建设部及科研所专家们的指导下，产品不断完善，不断更新。已广泛用于建材，建筑施工，道桥建设，水电工程和机械，交通、石油、化工等领域的质量检测。并同国内外各试验仪器厂建立了长期合作关系，严把质量关，价格更优惠！
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赣州ec-770涂层测厚仪 镀层膜厚仪 产品的详细参数,实时报价多种型号内容

型号:JX134163记忆型涂层测厚仪QuaNix keyless

记忆型涂层测厚仪QuaNix keyless

1.无需校准
2.Fe/NFe两用探头
3.自动调零
4.自动开关机
5.无任何按键
6.无线传输迷你探头
7.可存储3900个测量值，999个数据组（keyless记忆型）

QuaNix技术参数
型 号	4200	4500	1200	1500	7500	keyless
基 体	Fe	Fe/NFe	Fe	Fe/NFe	Fe、NFe、Fe/NFe	Fe/NFe
探头形式	一体				一体、分体	无线分体
显 示	LCD数字显示
测量范围	0－3000μm	Fe:0-3000μm NFe：0－2000μm	0－2000μm	0－5000μm	0－2000μm 0－5000μm	0－5000μm
测量精度	0－50μm：≤±1μm，50－1000μm：≤±1.5%，1000－2000μm：≤±2%， 2000－5000μm≤±3%
显示精度	1μm		0－999μm：0.1μm，1000μm以上，0.01mm
工作温度	－10 － ＋60℃
温度补偿	0－50℃
存 储	－			1500M型	7500M型	keylessM型
				3900个测量值，999个数据组
数据传输	－			RS232打印、电脑
统计功能	－			平均值、值、小值、标准偏差
超限报警	－					上下限
小基体	10mm×10mm
小曲率	凸、凹半径：3mm/25mm		凸半径：5mm，凹半径：25mm
薄基体	Fe：0.2mm，NFe：0.05mm
电 源	5号电池2节		9V碱性电池1节			5号电池2节
重 量	110g		130g		150g	130g
尺 寸	110×60×27mm		166×64×34mm		110×60×24mm	110×62×22mm