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HY(IC) 电子标签弯扭试验机

产品信息

HY(IC)IC卡动态弯扭试验机


技 术 参 数

配  置







本仪器针对性IC卡在国标GB/T 16649.1,国标GB/T-17554.1-2006及ISO10373和ISO7816-1998国际标准等试验标准中的弯曲、扭矩的试验; 完全符合以上标准。



外形尺寸:L670 X W380 X H220



儀器重量:70kg



電 壓:AC220V±5%



功 率:35W



測試速度:彎曲 扭曲30r/min及0.5Hz



測試周期:1~9999次                                         



扭曲度 :±15°±1° 雙向d=86 mm



正反向各15°,总扭曲角度30°



长边Z大位移量为20mm(+0.00mm,-1 mm)



长边Z小位移量为2mm±0.50mm,



短边Z大位移量为10mm(+0.00mm,-1 mm)



长边Z小位移量为1mm±0.50mm,



夹具安装尺寸完全按照国家标准执行。







仪器加罩前的尺寸是:



长:74.5cm,宽:38cm  高:30cm



仪器加罩后的尺寸是:



长:78cm,宽:42.5cm  高:30cm



1、 IC卡动态弯扭试验机主机一台;



2、配置:

1)常用调试工具套:

2)台湾STK交流调速电机系统一套;

3)台湾衡翼高精度齿轮减速系统一套;

4)高精度光电计数器一套

4)台湾衡翼高精度计数系统一套;

3、产品用途:

   用于检测磁条卡,IC芯片卡,集成电路卡,等卡的弯曲和扭曲性能测试。


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