日本日置 3506-10 C测试仪
- 产地：广东 深圳市
- 供应商：深圳市君辉电子有限公司
- 供应商报价： 电议
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产品库
对应1MHz测试, 低容量,高精度,高速测试
● 模拟测量时间0.6ms(1MHz)的高速测量
● 提高了抗干扰性，在产线的上也能实现高反复精度
● 1kHz、1MHz测量下，低电容的贴片时可稳定测量
● 根据BIN的测定区分容量
测量参数 | C(电容),D(损耗系数tanδ), Q (1/tan δ) | ||
测量范围 | C:0.001fF～15.0000μF D: 0.00001 ～ 1.99999 Q:0.0 ～ 19999.9 | ||
基本精度 | (代表值)C: ±0.14% rdg. D: ±0.0013 | ||
测量频率 | 1kHz, 1MHz | ||
测量信号电平 | 500mV, 1V rms | ||
输出电阻 | 1Ω (在1kHz 时2.2 μF 以上量程), 20Ω(除上述以外的量程) | ||
显示 | LED(6位显示,满量程由点数有效距离来决定) | ||
测量时间 | 1.5ms：1MHz， 2.0 ms：1kHz | ||
功能 | BIN分类测量, 触发同步输出, 测量条件记忆, 测量值比较功能, 平均值功能, Low-C筛选功能, 振动功能, 电流检测监视功能, 输出电压值监视功能, 控制用输入输出 (EXT. I/O), RS-232C接口, GP-IB接口 | ||
电源 | AC 100/120/220/240V ±10%(可选择), 50/60Hz, Z大40VA | ||
体积及重量 | 260W × 100H × 298Dmm, 4.8kg | ||
附件 | 电源线× 1, 电源备用保险丝× 1，使用说明书× 1 |
