产品库

日本日置 IM3533 LCR测试仪

产品信息

产品概述


 



应用于生产线和自动化测试领域的理想选择



● 基本精度±0.05%,测量范围广(DC,40Hz~200kHz,5mV~5V,10μA~50mA)

● 在比如C-D和ESR这样的混合测量条件下,可以以往产品10倍的速度不间断测试。

● 内置比较器和BIN功能

● 2ms的快速测试时间


日本日置 IM3533 LCR测试仪厂家


 


产品特点


 


LCR测试仪IM3523测量方法:连续测量不同条件


在电容的测量条件中希望以120Hz测量C-D。希望以100kHz测量ESR。这时,使用1台告诉连续测量不同条件。


LCR测试仪IM3523测量方法:顺畅的进行生产线的设置更改的面板读取功能


为了使用1台LCR测试仪测量多种产品,要求GX率的更改设置。

IM3523的面板保存功能更,多保存60组测量条件,还能保存128个开路/短路补偿和线长补偿等的补偿值。使用面板功能读取所保存的测量条件。除了手动读取以外,可以使用外部控制端口控制面板编号的读取,因此能缩短构筑自动化检查产线的时间。


可靠的产线检查:接触检查功能


检查4端子测量时样品间的接触不良。

测量LPOT〜LCUR间和HPOT〜HCUR间的接触电阻,如果在所设置的阈值以上时则显示错误。

日本日置 IM3533 LCR测试仪厂家 


 


选型指南



 



测量模式


LCR,连续测试


测量参数


Z,Y,θ,Rs(ESR),Rp,DCR(DC电阻),X,G,B,Cs,Cp,Ls,Lp,D(tanδ),Q


测量量程


100mΩ~100MΩ,10个量程(所有参数根据Z定义)


可显示量程


Z,Y,Rs,Rp,Rdc,X,G,B,Ls,Lp,Cs,Cp:

± (0.000000 [单位]* ~9.99999G
[单位])(*为Z高分辩率时的显示位数)

 只有 Z和Y显示真有效值

θ: ± (0.000°~999.999°), D: ± (0.00000~9.99999)

Q: ± (0.00~99999.9), Δ%: ± (0.0000%~999.999%)


基本精度


Z : ±0.05%rdg.
θ: ±0.03°


测量频率


40Hz ~200kHz (1mHz ~10Hz)


测量信号电平


正常模式

V模式,CV模式: 5mV~5Vrms,1mVrms

CC模式: 10μA~50mArms,10μArms


输出阻抗


正常模式:100Ω


显示


单色LCD


测量时间


2ms(1kHz,FAST,代表值)


功能


比较器,分类测量(BIN功能),面板读取/保存、存储功能


接口


EXT I/O(处理器),USB通信(高速)

选件:RS-232C,GP-IB,LAN任选一


电源


100~240V AC,50/60Hz,Z大50VA


尺寸及重量


260mm W×88mm
H×203mm D, 2.4kg


附件


电源线×1,使用说明书×1,CD-R(包括PC指令和样本软件)×1


日本日置 IM3533 LCR测试仪厂家


信息声明:本产品供应信息由仪器网为您整合,供应商为(深圳市君辉电子有限公司),内容包括 (日本日置 IM3533 LCR测试仪)的品牌、型号、技术参数、详细介绍等;如果您想了解更多关于 (日本日置 IM3533 LCR测试仪)的信息,请直接联系供应商,给供应商留言!
供应商产品推荐
    您可能感兴趣的产品