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HIOKI 3445 日置3445温度计 HIOKI 3445 红外测温仪 温度测试仪

产品信息
是否提供加工定制品Pai日置HIOKI
型号HIOKI 3445测量范围-50~500(℃)
对应温度控制、管理的放射温度计
0.1分辨率,正确、非接触、快速测量/1.6s(95%)广范围温度可使用于恶劣环境的防湿/防尘构造(IP54)用3909接口卡,实现GX率PC计测用专用软件(包含于3909),处理/管理数据因用途可选择的3型号温度的连续收集
基本参数
测量量程-50~500°C(分辨率0.1°C)
测量精度±1%rdg.(200.1~500°C), ±2°C(0~200°C)
±10%rdg.±2°C(-50~-0.1°C)
响应时间约0.7s(95%响应/1°C分辨率时)
采样速率约8s/次
显示4行LCD
测量视野直径7cm距离处为Ф2.5mm
瞄准2束激光标记(2级)
测量波长8~16μm
放射率补偿ε=0.10~1.00(0.01步进)
功能Z大、Z小显示,模拟输出(需3909),RS-232C输出(需3909)
使用温湿度范围0~40°C,35~85%rh(不凝结)
电源供应6F22×1(连续使用约20小时)
体积及重量47宽×200高×48厚mm,280g
附件携带盒(1),背带(1)
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