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GENIUS5OOO 手持式X射线镀银层测厚仪

产品信息



性能指标

手持式X射线镀银层测厚仪分析方法:能量色散X荧光分析方法
测量元素范围:镁(Mg)到铀(U)之间的元素均可测量
同时检测元素:数几十种元素可同时分析
处理器和内存:CPU:667MHz,内存:256M,扩展存储支持32G,标配2G,可以海量存储数据。
含量范围:ppm~99.99%
检测时间:3-30秒
GPS、WIFI:内置系统
电池使用时间:可充电锂电池,电池电量7800mAH,可持续工作8小时;配有宽电压110V-220V通用适配器,可交流供电使用。
检测对象:固体、液体、粉末
探测器:25mm2 0.3mil,SDD探测器
探测器分辨率:低可达139eV
激发源:50KV/100uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源
准直器和滤光片:直径4.0和2.0mm准直器,6种滤光片组合自动切换,12种组合,世界上多的组合方式,可满足各种类样品的测试
检测对象:固体、液体、粉末
视频系统:高清晰摄像头
显示屏:半透半反式液晶显示触摸屏,其分辨率是640*480
检出限:低检出限达ppm级
检测窗口:12mm


外接台式电脑。
操作环境湿度:≤90%
操作环境温度:-20℃~+50℃
仪器外形尺寸:234×306×82mm(L×H×W)
仪器重量:1.9Kg(配备电池),1.6Kg(无电池)新一代Genius XRF手持式X射线镀银层测厚仪是专门针对在现场,野外进行X荧光分析的应用而设计,具有体积小,重量轻,普通人可手持测量的特点;产品超小、超轻、超美、超安全、超方便、超长待机时间、超防水、超准、超快等特点,并在小型X射线仪上引入了数字多道技术,使仪器检出限更好,稳定性更高,适用面更广。

产品包括有害元素分析仪,合金镀层分析仪,矿石分析仪,土壤重金属分析仪,XRF等一系列型号,可充分满足从原料检测,生产过程控制到成品检验中各种元素成分的现场在线分析

该系列产品通过严格检测和验证,各项指标均符合相关技术要求,技术达国际水平。产品已开始批量销售于国内外市场,受到客户的好评,打破国外厂家的垄断。

 

测样图片

 

 

 
性能优势

性能堪比台式机
小功率端窗一体化微型光管、大面积铍窗SDD硅漂移探测器(世界上的探测器)及微型数字信号多道处理器三大核心技术的引入,大幅降低测试时间、提高检测精度、减少测试误差,使手持式仪器具有与台式相近的测试性能。
小巧便携、操作快捷
体积很小,便携、方便野外工作。随时随地,随心所欲的现场分析和原位分析。
无损检测
整个检测过程被测样品无任何损坏
快速检测
既可手持1-2秒对样品进行快速测试,也能使用座式对样品进行较长时间的精细测试,10秒即可进行接近实验室精度的测量。
新增轻元素检测功能
较三代手持式X荧光分析仪(手持式X射线镀层测厚仪),增加了可充气系统,可采用常压充氦气系统对设备充气。从而实现检测从Mg开始的元素,大大扩展测试元素范围,满足特定客户轻元素检测需求。
直接测定无需制样
野外分析无需制备样品,可直接在待测物表面进行测定,可分析任何样品类型,包括电子电器产品、镀层厚度、合金样品、地质矿产、土壤、岩石、泥土、残渣、固体小颗粒、液体沉积物等。
多种测试模式设置及无限数目模式的自由添加,配合自动测试模式匹配功能,实现一键式轻松测试。内置强度校正方法,可校正几何状态不同和结构密度不均匀的样品造成的偏差。
软件,操作简易
有害元素分析仪,合金分析仪,矿石分析仪,土壤重金属分析仪均配置的应用软件。全新的软件界面和内核,将FP和EC软件相结合,应用面更广大。灵敏度高、测试时间短、操作简易,对操作人员限制很小的特点。
准直滤光片,三倍功效提升
在准直滤光片组合基础上,从原有4组增加到12组的,提升了三倍。
数据传输更加高速
采用嵌入式Windows CE系统,高显示分辨率(640*480)液晶显示触摸屏,结合数字多道技术,采用SPI数据传输,有效提升数据传输能力与数据运算能力。在任何环境中,测试数据都尽在掌中。
辐射防护、关爱健康
三重安全防护功能,自动感应,具有无样品空测,2秒自动关X光管功能;工作时的辐射水平远低于国际安全标准,无射线泄漏;加厚防护测试壁;配送测试防护安全罩。
电量强劲、充电方便
锂电池电量容量7800mAH,可连续工作8小时,较前三代设备,续航能力增加一倍。并配备了宽电压的交流充电器或车载式充电器,保证随时随地进行测试。
警告指示,预防误操作

 

 

产品优势

 

便携式镀银层测厚仪测试元素范围原子序数为12~92【镁(Mg)到铀(U)】之间的元素均可测量

分析厚度范围0.01~50um(实际分析范围随元素种类和层数不同)

分析层数*可达五层

分析时间5~30

曲线类型基本参数FP法和经验系数EC

50KV/激发源 200uA-银靶端窗一体化微型X光管及高压电源

探测器SDD半导体探测器

探测器分辨率*低可达125eV

准直器和滤光片直径4.0mm和2.0mm准直器,6种滤光片组合自动切换

视频系统500万像素的高清晰摄像头

显示屏全新5寸液晶显示触摸屏,其分辨率是1080x720

内置系统GPS、Wi-Fi、蓝牙

微电脑系统工业定制*系统CPU: 1G 系统内存扩展存储*支持32G,标配4G,可以海量存储数据。

电源

可充电锂电池,标配9000mAh 可持续工作12小时;可选配27000mAh超大电池,

配有宽电压110V~220V通用适配器,可充流供电使用。

测厚检出限*低检出限可达0.01um

安全性

多重安全防护,不测试,无辐射,工作时的辐射水平远低于国际安全标准,且具有无样品空测,

自动关X光管功能。标配辐射屏蔽罩、加厚仪器合金测试壁。

仪器外形尺寸244mm(长)x 90mm(宽)x 330mm(高)

仪器重量1.7Kg

*性重金属分析软件,采用智能一键测试和智能判断功能

数据传输数字多道技术,SPI数据传输,快速分析,高计数率;防水迷你USB,并且可以外接台式电脑。

仪器重量1.7Kg

操作环境湿度≤90%

智能三色预警

指示系统

通电开机时绿色电源指示灯亮,测试时红色辐射警告指示灯闪烁,

设备出现故障黄色辐射指示灯闪烁。

附 件

三防保护箱,具有抗压、防水和减震作用。通用充电器及车载充电器,4G SD存储卡和读卡器,

两块锂电池及充电器,PDA附件,辐射屏蔽罩。选配件:超大电池,座式测试支架,蓝牙打印机,粉碎机,

手动压样机,多种目筛等

信息声明:本产品供应信息由仪器网为您整合,供应商为(江苏天瑞仪器股份有限公司),内容包括 (GENIUS5OOO 手持式X射线镀银层测厚仪)的品牌、型号、技术参数、详细介绍等;如果您想了解更多关于 (GENIUS5OOO 手持式X射线镀银层测厚仪)的信息,请直接联系供应商,给供应商留言!
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