LH-200J 涡流膜厚计

规格LZ-373 73 电磁涂层测厚仪

测量方法利用电磁感应涡流的方法

应用黑色金属和有色金属基板基板绝缘涂层的非磁性涂层

测量范围电磁2500μm金99.0mils：0

涡流：0-1200μM或47.0mils

测量精度<50 μm ± 1 μm, 50 μm to <1000 vm ± 2%, ≥ 1000 μm ± 3%

分辨率<100 μm, 0.1 μm; ≥ 100 μm, 1 μm

合格标准电磁感应：JIS k5600-1-7、JIS h8501、JIS h0401 / ISO 2808 ISO 2064 ISO 1460、、、ISO 2178 ISO 19840和BS、3900-c5 / ASTM B 499、ASTM D 7091-5

涡流：JIS k5600 1 7、jis h8680 - 2、jis h8501 / ISO 2808、iso 2360、iso 2064、iso 19840 / BS 3900～C5／ASTM D i-7091 5

数据存储器大约39000点

应用程序的内存

50种电磁校准曲线，

50种类型的涡流校准曲线。

探查单点定压型探头（lep-j，lhp-j）

显示格式数字（LCD背光，最小显示单位0.1毫米）

外部输出PC或打印机输出（RS-232C）

电源4x 1.5V电池（AA型碱性）

功率消耗80兆瓦（当背光关闭）

电池寿命100小时（constant操作，背光关闭）

操作环境0～40℃

功能16种类型的内部函数

涡流膜厚计LH-200JMcWAVE Lite可以从膜厚计向PC自由传送数据，具有能够将接收到的原始数据和编辑的登录数据分别管理到1000件的双重数据库结构。基本统计值实时显示，可设置在任意表格样式中。此外，还具有通过单击将编辑后的数据传递给MS Excel，还可以进行数据结合和分割的丰富多彩的编辑功能。McWAVE Std.是除了Lite版的全部功能之外，还能够用一个图标图形显示、印印X-R管理图和西格玛（σ）管理等直方图的高功能版。转运到P C的膜厚数据与2个统计管理图直接相连，可以简单地显示管理图。涡流膜厚计LH-200J McWAVE Pro.除了Std.的功能外，还可以在PC上登录、运用大量的基础修正数据等，大幅强化了功能。Multi PROP是将膜厚计的测定数据转换成公团、公社等指定格式，用于印刷的软件。

一般来说，成分析需要时间。无论哪种优秀的分析方法，一天能得到的数据都是有限的。
但是，也有缩短时间的方法。
——使用近红外分量计。预先与成分分析值相关的近红外分量计检测
如果预先登记定量线的话，几秒钟就能知道成分含有率。