角分辨光谱系统

角分辨光谱系统角分辨光谱仪AR 采用智能化的自动旋转设计，分别调节入射和出射方向，实现对待测样品不同角度的光谱测量。目前，角分辨光谱测量模式有：上反射、下反射、透射、散射、辐射、自由模式和编程模式。

角分辨光谱系统AR角分辨光谱仪测量范围为250~2500 nm，内置氘灯/卤素灯光源，与外控制器连接，分束镜选用Polka，考虑到色差因素，光路设计独特，可集成Fluorite石英透镜消除色差。

典型应用

角分辨光谱测量主要应用于光子晶体、超材料、光栅、结构色、超晶格材料、微纳光学、纳米材料、LED液晶材料等光学特性的表征。

1、薄膜光谱：该系列样品具有能带结构，在光谱呈现方面不同，因此需要光谱测量系统具有精确的角度分辨能力；

2、SPP/SPR：表面等离子体的光谱比较敏感，对角度依赖性较强，因此需要光谱测量系统具有宽泛的光谱测量波段和精确的角度分辨能力；

3、meta-material：在不同偏振态下，待测样品的光谱特性不同，因此需要光谱测量系统具有各偏振的分辨能力。

从图中可以看出，光栅样品的角分辨光谱具有一个正常色散能带和一个反常色散能带。Y轴为光栅样品的衍射光谱与白板散射光谱的比值。

产品特点

1、角度测量范围覆盖0~360°全角度测量；

2、波段范围涵盖250~2500 nm宽谱段测量；

3、多维度精细调节，适合样品的多样性测量；

4、适配多波段偏振器件、滤光片等光学元件，可加载旋转调节支架，便于调剂。

5、配置高精度电机，角度重复精度±0.05°，能够实现高精度的角度定位，满足各种角度的设置需求。

6、外部可新增Laser光源接口，使得AR测量可拓展到角分辨荧光光谱领域。