进口镀层测厚仪

一、技术参数进口镀层测厚仪

采用X射线荧光光谱法无损测量金属镀层、覆盖层厚度，测量方法满足GB/T 16921-2005标准（等同ISO3497：2000、 ASTM B568和DIN50987）

• 镀层元素范围：钛Ti～铀U

包含常见的金Au、镍Ni、铜Cu、银Ag、锡Sn、锌Zn、铬Cr、钯Pd等

• 测量方式：由上而下
• 探 测 器：高分辨空气正比计数器（选配：Si-Pin，SDD)
• X射线装置：W靶
• 电     压：50kV（1.2mA）
• 放 大倍数：光学40X,彩色CCD，手动变焦。
• 准 直 器：标配0.3mm，可选配0.5mm或4位多准直器
• 镀层层数：多至5层（四层镀层、一层底材）
• 操作平台：标配：手动/自动（选配）
• 测量点尺寸：圆形测量点，直径约0.2-0.8毫米
• 测量时间：通常35秒-180秒
• 样品ZD尺寸：330 x 200 x 170 mm (长x宽x高)
• 仪器外观尺寸：350 x 450 x 310 mm(长x宽x高)
• 测量误差：通常≤5%，视样品具体情况而定。
• 可测厚度范围：通常0.0001um到30um，视样品组成和镀层结构而定。
• 同时定量测量8个元素
• 定性鉴定材料达20个元素
• 工 作 电 压：230V, 50/60Hz，120W
• 重      量：27kg

20、自动测量功能：编程测量，自定测量；进口镀层测厚仪

修正测量功能：底材修正，已知样品修正 
定性分析功能：光谱表示，光谱比较；

定量分析功能：合金成份分析 
数据统计功能：x管理图，x-R管理图，直方柱图。