HKD-MX4R 半导体LCD检测金相显微镜

HKD-MX4R-半导体LCD检测金相显微镜

半导体LCD检测金相显微镜采用全新CSIS光路设计,无限远色差校正光学系统，像质更好，分辨率更高，采用长寿命LED光源，提供出色的图像质量，多种高度功能化的附件，能满足各种检验需要，可用于明场、简易偏光，微分干涉观察；是新型FPD检查显微镜，专为LCD行业TFT导电粒子压痕， OGS压痕、导电粒子、ITO检测和工程分析设计。

性能特点

1、安全、稳重的机架结构设计

工业检测级显微镜镜体，低ZX、高刚性、高稳定性金属机架，

保证了系统的抗震能力与成像稳定性。其前置低手位粗微调同轴调焦机构，内置100-240V宽电压变压器，可适应不同地区的电网电压。底座内部设计有风循环散热系统，长时间使用也不会使机架过热。

2、反射照明器
单颗大功率5W白色LED照明，带斜照明机构。切换至斜照明时，可以使物体表面不同材质部分

呈现立体图案，增加观察的对比度与视觉效果。

3、高性能物镜转换器

转换器采用精密轴承设计，转动手感轻巧舒适，重复定位精度高，物镜转换后的同心度也得到较好的控制，根据需求可配置不同孔位的转换器。

4、转轴式三目，瞳距调节范围50-75mm，目视与CCD相机可同步观察

5、内倾式五孔转换器避免呼吸热

气对物镜的影响，使用者拥有更

大的操作空间

6、专用的搬运把手设计

7、LMPL无限远长工作距金相物镜

 5X、10X、20X、50X（选配）
8、全新研发的U-DICR 微分干涉组件，

可以将明场观察下无法检测的细微高低差

转化为高对比度的明暗差并以

立体浮雕形式表现出来，

如LCD 导电粒子，精密磁盘表面划痕等。