SYS-III 小麦粉加工精度测定仪SYS-III

小麦粉加工精度测定仪SYS-III介绍：
SYS-Ⅲ小麦粉加工精度测定仪是我公司研制开发的一种检测仪器，适用于面粉厂、粮食检化验部门对小麦粉粉色和麸星含量的检测。
小麦粉粉色和麸星是衡量小麦粉加工精度的两个指标。长期以来，一直采用目测方式与实物标准样品比较粉色和麸星，以确定小麦粉的加工精度。这种方法受主观因素影响大，判断误差较大，且无法定量表述。
SYS-Ⅲ小麦粉加工精度测定仪应用图像处理和数值分析技术，实现了对小麦粉粉色和麸星的客观及自动检测。该仪器能够测定小麦粉的蓝光白度、粉色以及麸星所占比例等指标，具有检测快速，结果客观、量化的特点。
小麦粉加工精度测定仪SYS-III主要技术参数:
1、光源：模拟D65照明体
2、粉色表示：色空间值L*、a*、b*（L、a、b）
3、麸星含量表示：试样表面麸星面积与试样表面积的比值（%）
4、白度表示：蓝光白度Wb
5、显示：图形点阵液晶显示器
6、24h稳定性：白度≤0.1麸星百分比≤0.2%
7、示值精度：白度≤0.5麸星百分比≤0.4%
8、麸星含量测定重复性：同一份试样两次测定的JD差值小于算术平均值的10%
9、色度值重复性：△E*ab≤0.2
预热时间：30分钟
电源：交流220V±10%    50Hz
工作温度：0℃~40℃
外形尺寸（长×宽×高）：500mm×350mm×380mm
SYS-Ⅲ小麦粉加工精度测定仪，满足《GB/T 5504-2011 粮油检验小麦粉加工精度检验》的要求。

产品关键词：小麦粉加工精度测定仪SYS-III