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奥林巴斯日本45MG测厚仪全国

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奥林巴斯日本45MG测厚仪全国

 

45MG仪器是一款带有各种标准测量功能和软件选项的高级超声测厚仪。这款独具特色的仪器与所有Olympus双晶和单晶测厚探头兼容,是一款集所有解决方案于一机的创新型仪器,可用于几乎所有测厚应用。

45MG仪器在使用基本配置时,是一款易懂易学、操作简便的测厚仪,操作人员经过zui基本的培训,就可完成zui常用的测厚应用。不过,45MG仪器添加了可选软件选项和探头后,就会变成一款极为高级的测厚仪,可以进行典型的初级仪器不能完成的应用。此外,大多数选项可以在购买仪器时分别购买,或在日后需要时购买。

45MG超声波测厚仪测量详细介绍:    
双晶探头测量模式    从激励脉冲后的精确延迟到*个回波之间的时间间隔。
自动回波到回波(可选)    在两个连续底面回波之间的时间间隔,不计漆层或涂层的厚度。
穿透涂层测量 (可选)    利用单个底面回波,测量金属的实际厚度和涂层厚度(使用D7906-SM和D7906探头)
单晶探头测量模式(可选)    模式1:激励脉冲与*个底面回波之间的时间间隔。 
模式2:延迟块回波与*个底面回波之间的时间间隔(使用延迟块或水浸式探头) 
模式3:在激励脉冲之后,位于*个表面回波后的相邻底面回波之间的时间间隔(使用延迟块探头或水浸式探头)。
厚度范围    0.080 mm~635 mm(0.003 in.~25.0 in.)视材料、探头、表面条件、温度和所选配置而定(要测量zui全的范围需要使用单晶选项)
材料声速范围    0.508 mm/μs~18.699 mm/μs(0.020 in./μs~0.7362 in./μs)
分辨率(可选择)    低分辨率:0.1毫米(0.01英寸) 
标准分辨率:0.01毫米(0.001英寸) 
单晶选项:0.001毫米(0.0001英寸)
探头频率范围    标准:2.25 MHz~30 MHz(-3 dB)高穿透(单晶选项):0.50 MHz~30 MHz(-3 dB)

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