纳米级大相位差测试仪双折射仪iphonex玻璃应力测试仪分子内应力光子晶体结构测试

显微型双折射测量仪日本Photonic-lattice公司成立于1996年，以日本东北大学的光子晶体的研究技术为核心，成立的合资公司，尤其是其光子晶体制造技术居世界前列，并由此开发出的测量仪器。 

主要产品分四部分：

·         n 光子晶体光学元件；

·         双折射和相位差评价系统；

·         膜厚测试仪；

·         偏振成像相机。

『相位差』『双折射』『内部应力』测量装置 WPA/PA系列

·         快速定量测量透明材料和薄膜2维平面内的

·         相位差、双折射和内部应力应变分布

显微型双折射测量仪PA/WPA系统特点：

·         操作简单/快速测定：独特的偏振成像传感器进行简单的和快速的操作即可测量相位差的分布

·         2D数据的多方面分析功能：二维数据的强大分析功能，能够直观解释被测样品的特性。

·         大相位差测试能力（WPA系列）：通过对三组不同波长的测量数据进行计算，WPA系统可以测量出几千nm范围内的相位差。

          偏光图像传感器的结构和测试原理

显微型双折射测量仪显微镜下快速测量PA-Micro

显微镜视野下的低相位差样品的测试。

产品特点：

曲线图功能

CSV格式输出

轴相位差显示

l 显微相位差测试的进入模式。

l 适用于低于100nm相位差的透明样品的低相位差测试。