EN-2005C 功率器件综合测试系统
- 产地:陕西 西安市
- 供应商:西安易恩电气科技有限公司
- 供应商报价: 188.00¥
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1、EN-2005C 功率器件综合测试系统系统概述
EN-2005C是一款很具有代表性的新型半导体晶体管图示系统,本系统可自动生成功率器件的I-V曲线,也可根据客户的实际需求设置功能测试,直接读取数显结果。系统在失效分析,IQC来料检验及高校实验室等部门有广泛的应用。系统生成的曲线都使用ATE系统逐点建立,保证了数据的准确可靠。系统典型的测试时间是6 to 20ms,通常上百个数据点曲线只需要几秒钟时间便可以展现出来,数据捕获的曲线可导入EXCEL等格式进一步分析研究,是一款GX多功能的高端半导体测试设备。
本系统使用方便,只需要通过USB或者RS232与电脑连接,通过电脑中友好的人机界面操作,即可完成测试。并可以实现测试数据以EXCEL和WORD的格式保存。系统提供过电保护功能,门极过电保护适配器提供了广泛的诊断测试。这些自我测试诊断被编成测试代码,以提供自我测试夹具,在任何时间都可以检测。对诊断设备状态和测试结果提供了可靠地保证。
2、EN-2005C 功率器件综合测试系统系统软件支持
器件测试程序的生成是通过在一台运行系统为Windows或WindowsNT的PC机上YB6600接口程序实现的。该程序提供快速的器件测试程序生成,具有全屏显示和增强型编辑帮助。
一种填空式编程方法向用户提供简明、直观的使用环境。操作人员只需在提示下,输入所选器件系列名称和测试类型,并选择所需测试的参数,而不必具有专业计算机编程语言知识。完成一个器件的测试程序编制只需几分钟的时间,非常快捷方便。
3、EN-2005C 功率器件综合测试系统概述
EN-2005C测试系统通过PC机对其内部功率源、测试施加条件、测试具体线路进行控制,达到对器件进行测试的目的。在一定的测试条件下,这些源与条件负载按照条件准确的连接,其中包含了大量的负载、转换功率源和所要求的外部测试线路。
4、EN-2005C 功率器件综合测试系统测试系统特点
1.图形显示功能
2.局部放大功能
3.程序保护Z大电流/电压,以防损坏
4.品种繁多的曲线
5.可编程的数据点对应
6.增加线性或对数
7.可编程延迟时间可减少器件发热
8.保存和重新导入入口程序
9.保存和导入之前捕获图象
10. 曲线数据直接导入到EXCEL
11.曲线程序和数据自动存入EXCEL
12.程序保护Z大电流/电压,以防损坏
5、EN-2005C 功率器件综合测试系统系统规格及技术指标
工作温度:25℃--40℃
工作湿度:45%--80%
贮存湿度:10%--90%
工作电压:200v--240v
电源频率:47HZ--63HZ
通信接口:RS232 USB
系统功耗:<150w
设备尺寸:450mm×570mm×280mm
6、EN-2005C 功率器件综合测试系统测试范围
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序号 | 测试器件 | 测试参数 | ||||||||
01 | 二极管 | DIODE |
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02 | 晶体管 | (NPN型/PNP型) | ICBO;ICEO;ICER; ICES; ICEV;IEBO;BVCEO ;BVCBO; | BVEBO;HFE;VCESAT;VBESAT;VBE(VBEON);RE;VF | ||||||
03 | J型场效应管 | J-FET |
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04 | MOS场效应管 | MOS-FET |
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05 | 双向可控硅 | TRIAC |
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06 | 可控硅 | SCR |
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07 |
| IGBT |
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08 | 硅触发可控硅 | STS |
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09 | 达林顿阵列 | DARLINTON | ICBO; ICEO;ICER;ICES;ICEX;IEBO;BVCEO; | BVCER;BVCEE;BVCES ;BVCBO;BVEBO;hFE ; | VCESAT; VBESAT;VBEON | |||||
10 | 光电耦合 | OPTO-COUPLER |
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11 | 继电器 | RELAY |
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12 | 稳压、齐纳二极管 | ZENER |
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13 | 三端稳压器 | REGULATOR | Vout;Iin; | |||||||
14 | 光电开关 | OPTO-SWITCH |
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15 | 光电逻辑 | OPTO-LOGIC |
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16 | 金属氧化物压变电阻 | MOV |
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17 | 固态过压保护器 | SSOVP |
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18 | 压变电阻 | VARISTOR |
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19 | 双向触发二极管 | DIAC |
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