ENI1220 西安易恩IPM 测试系统

西安易恩IPM 测试系统系统概述

西安易恩IPM 测试系统基础配置

西安易恩IPM 测试系统该系统是测试IPM的测试设备，输出电压3000v.电流3000A,

西安易恩IPM 测试系统系统通过外接数字温度计来观察vf的特征在通过标准温度和测量温度下的温度特征。

西安易恩IPM 测试系统配置/短路测试

西安易恩IPM 测试系统测试功能

BVCES, BVRRM, BVSCES, ICES, IRRM, VCE(SAT), VEC, VFBR, VDSET, VDSET-HP, ID,

UVt, UVr, OUVt, OUVr, VCIN(ON), VCIN(OFF),

ICIN(ON), ICIN(OFF), IFO(H), IFO(L), VFO(SAT), Iin leak, VCIN, ICIN,

OTc, TC-Out, td(OV), Udcout, OV, OVt, T_MEAS, V_MEAS

ICES, BVCES, IGES, VF, VGEON, VTH, VTHS, ICE(SAT), VCE(SAT)

VF-Temp, Temp, VF revision

西安易恩IPM 测试系统参数 / 精度

上桥IGBT/FRD漏电流测试(I_ces-H)

集电极电压Vce：

100～1200V，

误差±3%,分辨率10V

上桥IGBT/FRD耐压测试(Bvce-H)

上桥驱动IC低端静态电流测试(IDH)

集电极电流Ice：

10～7，

误差±3%,分辨率1A

上桥驱动IC高端静态工作电流测试

（Iqbs-U,V,W）

VD=VBS=15V,

误差±3%,分辨率0.1V

上桥欠压保护监测电平 （UVbsd-U V W）

VIN=0～5V

误差±3%,分辨率0.1V

上桥欠压保护复位电平（UVbsr-U V W）

ton-L : 10～500nS,

误差±3%,分辨率1nS

上桥驱动IC导通阈值电压测试

（Vth（on）-UH VH WH）

tc（on）-L :5～200ｎS,

误差±3%,分辨率1nS

toff-L: 50～500ｎS,

误差±3%,分辨率1nS

上桥驱动IC关断阈值电压测试

（Vth（off）-UH VH WH）

tc(off)-L: 5～200ｎS,

误差±3%,分辨率1nS

Trr-L :10～500ｎS,

误差±3%,分辨率1nS

上桥IGBT饱和电压测试（Vce(sat)-UH VH WH）

Eon-L :0.1～10ｍＪ,

误差±3%,分辨率0.1mJ

上桥FRD正向压降测试（VF-(UH VH WH)

Eoff-L： 0.1～10ｍＪ

误差±3%,分辨率0.1mJ

下桥IGBT/FRD漏电流测试(Ices-L)

集电极电压Vce：

100～1200V，

误差±3%,分辨率10V

下桥驱动IC静态工作电流测试（IDL）

故障输出电压测试（Vfoh Vfol）

集电极电流Ice：

10～7，

误差±3%,分辨率1A

过流保护阈值电压测试（Vcin（ref））

下桥欠压保护监测电平（UVdd）

VD=VBS=15V,

误差±3%,分辨率0.1V

下桥欠压保护复位电平（UVdr）

VIN=0～5V

误差±3%,分辨率0.1V

下桥驱动IC导通阈值电压

（Vth（on）-UL VL WL）

ton-L : 10～500nS,

误差±3%,分辨率1nS

tc（on）-L :5～200ｎS,

误差±3%,分辨率1nS

下桥驱动IC关断阈值电压

（Vth（off）-UL VL WL）

toff-L: 50～500ｎS,

误差±3%,分辨率1nS

tc(off)-L: 5～200ｎS,

误差±3%,分辨率1nS

下桥IGBT饱和电压测试（Vce(sat)-UL VL WL）

Trr-L :10～500ｎS,

误差±3%,分辨率1nS

下桥FRD正向压降测试（VF-(UL VL WL)

Eon-L :0.1～10ｍＪ,

误差±3%,分辨率0.1mJ

Eoff-L： 0.1～10ｍＪ

误差±3%,分辨率0.1mJ