HNP-IR-Leak双红外光谱定量检漏仪（HNP-IR-Leak）

1、概述 
      HNP-IR-Leak红外定量检漏仪主要应用于电力行业GIS和SF6气体绝缘的断路器及SF6充气式环网柜等SF6相关产品的泄漏检测使用，该设备集中了多方面的优点于一身，充分考虑现场应用的特点，将它设计成重量轻、便携式、无放射源、不需氩气、快速反应、高精度、高灵敏度、不受环境气体影响的HNP检漏仪。  
      主要应用：1、GIS组合电器；2、SF6断路器，开关柜；3、SF6相关电力设备。 
2、主要特点
● 无放射源 
● 低维护（只需两年校验一次），无易损件 
● 不受湿度影响 
● 不受环境污染影响 
● 无耗材 
● 高灵敏度探测泄露可达1ppm 
● 快速响应时间1秒 
● 严重泄露或SF6浓度达到100%时不会污染或损坏检测器 
3、技术指标
测量原理： 双红外线光谱 
灵 敏 度： 1ppm,3.43克/年,1.8x±10-5mbarL/s          
                     不受其它气体影响  
                     不受湿度影响1~100%rh（相对湿度）  
                     无冷凝  
                     不受环境污染影响 
响    应： 响应时间1秒 
重 复 性： < 0.3% 
操    作： 电池（可持续工作8小时以上）  
                   充电时选用100-265VAC-50Hz 
报    警： 报警音和显示屏指示 
测量单元： 测量单位：ppm 
测量范围： 0~2000ppm：±2%  
                     100~2000ppm：±5% 
校    验： 每两年校验一次 
温    度： 储存温度：-10~60℃ 
工作温度： 0~45℃ 
尺寸重量： 主机：285×195×80，2.5kg  
                     枪：210×110×90，0.5kg 

（HNP-IR-Leak） 

（德国制造）