叶面积指数分析仪
- 产地:杭州市
- 供应商:浙江托普仪器有限公司
- 供应商报价:面议
- 标签:叶面积指数分析仪
产品用途:
• 测算植物叶面积指数LAI, 植物冠层的太阳直射光透过率、天空散射光透过率、冠层的消光
系数,和叶片平均倾角等
• 应用于农作物、果树、森林内冠层受光状况的测量和分析
• 应用于不同植物群体结构的比较
• 应用于农田作物群体生长过程进行动态监测
• 应用于生态学野外植物群体动态监测的研究与教学
• 应用于农业、园艺、林业领域有关栽培、育种、 植物群体对比与发展的研究与教学
技术指标:
• 分析范围:0~2000μmol/m2•s
• 品 Pai:SINTEK(引进美国技术)
• 镜头角度:主机STEG-002的鱼眼镜头角度为zui宜适的150°(180°鱼眼镜头经常不适合
孔隙率测量原理与方法所假设的前提条件,用于冠层结构分析是不适宜和不经济的)
• 分辨率: 765×490pix
• 测量范围:天顶角范围 0°~75°(150°鱼眼镜头)可分割十个区域。
方位角 360°同样可分割成十个区域。
叶面积测定仪http://www.agr17.com.cn/