SH30-FDT系列 智能型一体化抗干扰精密介损测试仪 汉显抗干扰精密介损测试仪

智能型一体化抗干扰精密介损测试仪 汉显抗干扰精密介损测试仪  的详细介绍

产品特点：用于现场自动化分辨并测量电容型、电感型、电阻型试品的介质损耗，采用变频技术消除现场干扰，过流、过压保护，一体化、汉显、内置打印机。
★电容量：3pF-0.8uF
★精度：读数x1%±0.1pF
★tgδ精度:读数x1%±0.04%
相关数据:CX：读数×1%±1pFtgδ：读数×1%±0.04%
备注：抗干扰方式:变频抗干扰,45/55Hz自动双频测试.测试方法:正接法、反接法