X射线电镀层测厚仪,宜兴镀层测厚仪,邳州镀层测厚仪,海门镀层测厚仪,大丰镀层测厚

Micro Pioneer XRF-2000系列荧光X射线金属镀层测厚仪可用于测量一般工件、PCB及五金、半导体等产品的各种金属镀层的厚度。

其特点为：激光自动对焦、全自动XYZ样片台、简易自动对位、具温度补偿功能、十字线自动调整、可自行设计报告格式、多镀层及电镀液分析、具有竞争力的价格、五个准直器（0.1mm,0.2mm,0.3mm,0.4mm,0.05X0.3mm）。是非破坏性测厚仪器的*机型。

可测元素范围：钛（Ti） – 铀（U）  原子序 22 – 92
准直器：固定种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型1×0.4mm
自动种类大小:可选圆形0.1  0.2  0.3  0.4mm  方型0.05×0.4mm
综合性能:镀层分析  定性分析  定量分析  镀液分析 统计功能

本公司还供应上述产品的同类产品：美国膜厚仪,膜厚测量仪,镀层厚度测量仪