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RM3750B 回损测试仪

产品信息

 

 JDSU回损测试仪RM3750B

JDS Uniphase公司背反射用于背反射,插入损耗电源连接器,组件和系统方便测量仪器便携式直接显示一个单一的输出端口跳线制造商理想选择
 

产品特性
  **单模**
  波长范围:1310148015501625OR 1650 ±10nm
   传感器类型:2nm InGaAs
  动态范围: to -75 dB 0 to-80 dBm
   JD精度:±1.0 dB3.4
  ±25dBm(typical)at-10dBBm6.7
  相对精度:±0.4 dB4 ±0.05dB(<5 dB Loss)±0.15dB<5 dB Loss)6
  输出端口:RS 232
  输入电压:100-240V AC,50-60 Hz
  耗电量:30vA maximumFC,SC
  显示屏:16-chracter LCD
  尺寸:4 kg
  工作温度:0-40℃
  储存温度:-40-70℃
  湿度范围:maximum 95% RH from 10-40℃
  
  **多模**
  波长范围:850 and/or 1310±20nm
  传感器类型:3nm InGaAs
  动态范围: to -75 dB 0 to-60 dBm
   JD精度±1.0dB5
  ±0.25dBm(typical)at-10 dBm(7)
  相对精度:±0.7 dB 5 ±0.15 dB7.8
  输出端口:RS 232
  输入电压:100-240V AC,50-60 Hz
  耗电量:30vA maximumFC,SC
  显示屏:16-chracter LCD
  尺寸:4 kg
  工作温度:0-40℃
  储存温度:-40-70℃
  湿度范围:maximum 95% RH from 0-40℃

 

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