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香港CEM涂层测厚仪DT156两用式涂层测厚仪DT-156 香港CEM涂层测厚仪DT156两用式涂层测厚仪DT-156

产品信息

香港CEM涂层测厚仪DT156两用式涂层测厚仪DT-156简介:
1.        简述
本涂镀层测厚仪探头可以工作在电磁感应和涡流两种原理下。在自动模式(AUTO)下,两种原理可视测量的基体自动转换,或可通过菜单进行自动模式和非自动模式转换。
 
特点
l         可测量涂镀层: 任何磁性物质表面的非磁性涂镀层厚度;任何非磁性金属表面的绝缘涂镀层厚度
l         易于操作的菜单设计
l         连续和单次测量方式
l         直接工作模式和组工作模式
l         可统计并显示:平均值、zui大值、zui小值、标准方差、统计数
l         非常方便的进行一点或两点校准
l         可保存320个测量数据供随时下载至计算机处理
l         实时删除测量数据和组数据
l         高低限报警
l         低电和错误提示
l         USB传输数据至计算机分析统计
l         可设置的自动关机功能
 
1.1 应用
本仪表可应用在无损的、快速和高精度涂镀层测厚领域。它是油漆、防腐蚀、电镀、汽车工业、轮船运输、飞机制造等相关行业理想的辅助制造生产工具。它可以稳定地工作于实验室,车间现场和户外。同时,它可以工作在电磁感应和涡流两种原理下,完成不同涂镀层的测厚任务。
1.2 功能概述
当测量铁镍等磁性金属和合金基体表面涂层时,本仪表将工作于电磁感应原理。当测量非磁性的金属基体涂层时,它将工作于涡流模式。测量值和设定统计值将实时进行LCD显示,背光保证您在黑暗的环境中能顺利工作。本仪表设计有两种工作模式:直接模式和组模式。
直接模式(DIR): 此工作模式一般进行简单,快速和随意的测量。本模式下,可以进行80个测量数据的统计,但所有数据在仪表关机后*丢失,不能进行保存。关机前,您可以通过菜单调出之前的测量数据查看。请注意,从直接模式到组模式后,直接模式下面的所有测量数据和统计数据将*丢失。
组模式(GRO): 此工作模式下,所有测量数据和统计数据将被保存,断电、模式切换或关机不会丢失。zui大80个数据能被保存,进入组模式下,系统会自动把当前组的所有数据和统计值从存储器调入系统。此模式下,当测量数据量超出80后,zui旧的数据将被删除。
1.3 附件说明
两节1.5V干电池
包装箱
操作说明书
钢铁和铝块基体各一块,校准标准薄片若干
USB连接线缆
软件CD,支持Windows 98/XP/Vista
1.4 探头
探头被安装在带V型槽的保护外壳内,探头顶部镶有红宝石,具有很强的耐腐蚀和耐磨作用。测量时,垂直迅速地置探头于待测基体上,探头底部弹簧将有助于使接触保持在一定力作用范围内,避免用力过度使待测基体变形,且接触紧密。
1.5 性能指标
传感器探头
铁磁性
非铁磁性
工作原理
磁感应
涡流
测量范围
0~1250um
0~49.21mils
0~1250um
0~49.21mils
误差
(相对当前读数)
0~850 um (+/- 3%+1um)
850um~1250 um (+/- 5%)
 
0~33.46 mils (+/- 3%+0.039mils)
33.46um~49.21mils (+/- 5%)
0~850 um(+/- 3%+1.5um)
850um~1250um (+/- 5%)
 
0~33.46mils (+/- 3%+0.059mils)
33.46um~49.21mils (+/- 5%)
精度
0~50um (0.1um)
50um~850um(1um)
850um~1250um(0.01mm)
 
 
0~1.968mils (0.001mils)
1.968mils~33.46mils(0.01mils)
33.46mils~49.21mils(0.1mils)
0~50um (0.1um)
50um~850um(1um)
850um~1250um(0.01mm)
 
 
0~1.968mils (0.001mils)
1.968mils~33.46mils(0.01mils)
33.46mils~49.21mils(0.1mils)
测量zui小曲率半径
 1.5mm
3mm
zui小测量面积(直径表示)
7mm
5mm
可测量基体zui小厚度
0.5mm
0.3mm
工作温度
0℃~40(32~104
工作湿度
 20%~90%

 
广州宇测电子科技有限公司
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