多功能扫描探针显微镜（SPM）-原子力显微镜（AFM）

 仪器简介：
扫描探针显微镜（SPM）平台是为了在纳米尺度研究样品的表面性质而设计的。它能够让我们在几微米到几个埃的尺寸下肉眼观察并定量测量样品的力学性质（硬度，弹性，粘度），电学性质（导电性，电容性，表面电荷分布）以及磁的性质。Solver 平台拥有超过40 种测量方法，并且实现在大气，气氛控制以及液体环境下进行工作。

技术参数：
测量模式： STM/ AFM （接触 + 轻敲+非接触）/ 横向力/ 相位/ 力调制/力谱/粘附力/ 磁力/ 静电力/ 开尔文/ 扩展电阻/纳米压痕/纳米刻蚀: AFM （电压刻蚀 + 力刻蚀）
扫描方式：样品扫描、针尖扫描、双扫描
测量头部：AFM和SPM，可选配液相模式
zui大样品尺寸：样品扫描：直径40mm，厚度10mm。针尖扫描：样品无限制
XY样品定位装置：移动范围5×5um，精度5um
光学系统：根据客户需求配置
样品温度控制：室温~130℃ 

主要特点：
Solver P47-PRO SPM 是一种可以在空气、液体和室温～ 130°C 的可控气氛下对不同的样品进行高精度综合分析的通用仪器。此型号不仅适合小公司或学校的试验室使用，同样适合大的研究ZX使用。其现代化的设计提供了zui高的测量精度和大量的SPM技术。可选配*的双扫描结构可以将扫描范围扩展到200x200um。该型号仪器现已装备到全世界600多个实验室，其中ZG大陆正在使用的用户达40多个。

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