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SFT9400系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

产品信息

SFT9400系列 X射线荧光镀层厚度测量仪

SFT9000系列里的机型SFT9455,搭载

75W高速X射线管和双重检验装置半导体检验装

置十比例计数管。适用薄膜金属

极微小部分测定等所有镀膜膜厚测

定要求的高性能膜厚测量仪器。而且

SFT9455在镀膜厚度测量功能的基础上还可

以用作异物定性分析和材料成分分析。

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