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SS-GSZ-HP-501 四探针探头SS-GSZ-HP-501

产品信息
四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻(面电阻)的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜(ITO透明氧化膜)，金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。




四探针探头   探头             型号：GSZ-HP-501










 



 



 



 



四探针探头是一种专门测量半导体薄层电阻（面电阻）的方块电阻测试仪配用的四探针测试探头，可用于测量一般半导体材料、导电薄膜（ITO透明氧化膜），金属薄膜……等同类物质的薄层电阻。



◆ 特性及规格：

 


1

 特制之手握式探笔

2

 球形探针、镀金探针有效接触被测材料及保护薄膜不被损伤

3

 探头带抗静电模块有效防止方块电阻测试仪采集数据集成模块烧坏

4

 探头使用寿命长

5

 探针间距：1mmm、1.59mm、3.8m；偏差≤2%；游移率≤0.3%；绝缘电阻≥500MΩ

型号

（Model）

曲率半径

（Radius）

压力

（loads）

探针间距

（spacing）

探针排列

（Arrangement）

GSZ-HP-501

0.5mm

100g

3.8mm

直线

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