ZX LS-C(IIA)干法激光粒度分析仪现货 | 铭成基业

 LS-C(IIA)型干法激光粒度仪采用干法，即压缩空气分散被测粉体，专门为不宜在液体中分散的固体粉末的粒度测量而设计。
用途：
适合各类在液体介质中会使其化学、物理性质发生改变的粉体样品。
工作原理：
利用颗粒对光的散射现象，根据散射光能的分布推算被测颗粒的粒度分布。。欧美克通过对光学、机械、电子、计算机等系统的整合和优化实现了颗粒测量的重复性好，动态范围大，操作简单方便。
输出项目：

粒度分布表、粒度分布曲线、中位径、特征粒径、宽度系数、比表面积、行业用分段颗粒百分比含量、>80μm百分含量（细度）、其他粒度综合参数等

技术指标：
1.测试范围：0.2-500μm
2.进样方式：干法进样
3.重复性误差：<3%
4.干法进样系统振动电机功率:2W振动频率:无极可调
5.测试时间：1-2分钟
6.独立探测单元数：40
7.光源：He-Ne激光器，功率2mW，波长0.6328μm
8.工作环境：温度：5-35℃，湿度：＜85%

软件功能：
1.开发环境Borland Visual C++，操作界面简洁、友好，操作方便。
2.简单方便的各种测试报告的显示及切换
3.支持电噪声自动清除功能
4.提供材料参数编辑、选择、保存等功能
5.支持中英文报告打印功能
6.用户粒径分级管理
7.提供多种方式的“测量参数”选择
8.提供多文档模式
9.软件提供“操作日志”功能、“测量日志”功能
10.数据录入功能
11.支持对多个文档的统计功能
12.2种分布模型：Rosin-Ramler分布、多峰分布
13.2种测试报告模式：普通测试报告、统计测试报告
14.2种累计分布方向：从小到大、从大到小
15.测试报告可导出为excel格式或其他文本格式
16.测试报告项目可根据行业要求即输即改，比如特征粒径、特定粒径值等项目，可设置为固定报告格式。