DIATEST内径测量,4系列标准塞规式孔径测量仪

该量仪属于比对法测量，可快速GX测量孔内几何形状，自定ZX，应用范围广，操作简单精度高，结构牢固长寿命，不会划伤工件

DIATEST塞规式测量系统特有的导向体设计，保证了测量结果的可能性，解决了孔径测量的对中难题，大限度减少了人为因素测量结果的影响，可方便、快速、准确得出测量结果。

测头为非标定制，按图纸及使用要求加工制作！

	测头结构				测头参数
1、手柄	测头形式：盲孔
2、显示装置	测量范围：+0.15mm
3、测针	重复精度：0.001mm
4、导向体	线性误差：1%测量行程
5、两瓣体	测点半径：1.5mm
6、测点	测头寿命：可达100万次