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氩离子研磨仪IB-09060CIS™ 

产品信息
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    低温冷冻离子切片仪IB-09060CIS™ 

    低温冷冻离子切片仪IB-09060CIS™ 带有样品冷却系统,对容易受热损伤的样品也可以进行截面制备的离子切片仪。

    易受热损伤的样品,也能方便地制作出薄膜样品和截面样品。冷却保持时间长,有效地YZ了热损伤。

     

    ★通过液氮制冷。

    通过液氮制冷,减轻了离子照射时对样品造成的热损伤。
    可以用于制备TEM的薄膜样品和SEM的截面样品*

    ★冷却保持时间长

    冷却保持时间长,大大减少了热损伤。
    在装有液氮的情况下,也可以交换样品。
    *样品尺寸:2.8mm(长度)×1.0 mm(宽度)×0.1mm(厚度)。

     

    产品规格

    离子加速电压 1 ~ 8kV
    倾斜角 Up to 6°(0.1°/步)
    离子束直径 500μm(FWHM)
    研磨速率 5m/min (加速电压:8 kV, Si换算)
    使用气体 氩气
    样品尺寸 2.8mm(长度)×0.5 mm(宽度)×0.1mm(厚度)
    样品冷却 样品架冷却温度 -120℃
    冷却到达时间 1小时
    冷却保持时间 8小时
    样品取出时间 30分钟
    压力测试 潘宁规
    主抽真空系统 涡轮分子泵
    CCD相机 内置
    尺寸 重量 主机 500mm(W)×600mm(D)×542mm(H)、70kg
    机械泵 150mm(W)×427mm(D)×230.5mm(H)、16kg
    液晶显示器 326mm(W)×173mm(D)×380mm(H)、3.7kg

    低温冷冻离子切片仪IB-09060CIS™

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