FZ-2006半导体粉末电阻率测 FZ-2006半导体粉末电阻率测仪表

本仪器是为了适应当前迅速发展中的高分子半导电纳米材料电阻率测试需要,参照有关国际标准设计的。 仪器的电流输出为10 µA - 100 mA，电阻率测试范围为10-2- 105Ωcm，直接采用数字显示。仪器的可靠性和稳定性大大增强，更方便于用户， 而且价格低廉、实惠。配置不同的测试架可以对半导体粉末、高分子纳米粉末和固态金属进行电阻、电阻率多用途的测量。

适用于有机、无机半导体粉末材料(包括纳米级)的电阻率测量,也可以测量固体半导体材料，特别适合于太阳能多晶硅、硅粉质量的测量、分选和质量控制.电阻率值直接数字显示由具有高精度加压系统,高度测量的测试台和仪器组成.

仪器主要包括电气箱和测试架两部分，电气测试部分由高精度直流数字电压表和直流恒定电流源组成。测试架为压力传感器， 加压机构和粉末标准容器组成。压力机构采用手动操作、压力平稳。本仪器具有测量精度高，稳定性好，重复性好，使用方便等特点， 并有自校功能。

本仪器采用国际通用的电流-电压降法即四端子测量法，可以消除电极与粉末接触产生的接触电阻误差，还可以消除联接系统所带来的误差， 克服了以往传统的二端测量粉末电阻率仪器的弊病，真实、准确地测量出粉末样品的电阻率，因此重复性好。

本仪器适用于碳素厂、焦化厂、石化厂、粉末冶金厂、高等院校、科研部门、是检验和分析固态、粉态和纳米样品质量的一种重要工具。

主要技术指标：

1.测量范围：

电阻10-4- 105Ω,分辨率10-4Ω

电阻率10-4- 105Ω.cm，分辨率10-4Ω.cm

测量误差 ±（0.3%读数+ 2字）

2.测量电压量程：20mV, 200mV, 2V，分辨率10 µV
测量精度:±（0.3%读数+ 2字）

3.测量电流：0 - 100 mA连续可调，
电流量程：10 µA, 100 µA, 1 mA, 10 mA, 100mA

4.试样粒度：40目以下- 60目以上（标准筛网）纳米粉末

5.试样容器：内腔Φ16.30±0.1mm

6.试样高度：16mm±0.5mm
测量误差：±0.1mm

7.取样压力：4 Mpa±0.05 Mpa ( 40 kg/cm² ±0.5 kg/cm²)
压力量程：0 - 100 kg可调

8.显示方式:电阻、电阻率、压力为3 1/2数字显示,并自动显示单位和小数点

9.电源：220±10% , 50HZ-60HZ,功率消耗< 150W消耗

10.外形尺寸电气箱：440mm×120mm×320mm

11.备有粉末测试架和固态标准样品测试台供选用