在轴On Axis 装调测试系统

在轴（On Axis）又称轴上,近轴，是许多光学装配工作首要解决的问题。根据我们经验，大部分的光学系统，只要在轴光学装配达到要求，基本可保证90%以上的光学质量达到要求。

我们的轴上装调测试系统，以我们的波前探测仪器(OMI , Optino)系列和精密光学测量仪器(Lentino, OPAL）为主要辅助测试手段，并根据实际产线和产品特性，设计测试光路，搭建系统。

对于装配、调校的光学质量，我们通过监控透射波前畸变、像差系数、MTF等，这些都是动态、实时显示的:

同时显示调整的方向箭头，其中箭头表示调整方向，箭头的长短表示调整的位移量。

在此基础之上配套相应的夹具、装校装置、点胶固化装置等，提供整套集成服务的交钥匙工程。