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梅特勒 XSE 分析天平

产品信息
  • XSE 分析天平提供至高称量性能和质量保证以及的人体工程学设计, 是各种工作场所可靠的解决方案。
     

     

    极限值

    XSE105DU

    XSE104

    XSE205DU

    XSE204

    称量值

    120 g

    120 g

    220 g

    220 g

    可读性

    0.1 mg

    0.1 mg

    0.1 mg

    0.1 mg

    可读性,精细量程

    0.01 mg

    0.01 mg

    皮重范围(从 …至)

     120 g

     120 g

     220 g

     220 g

    称量值,精细量程

    41 g

    81 g

    重复性 (sd) (加载处)

    0.1 mg (100 g)

    0.1 mg (100 g)

    0.1 mg (200 g)

    0.1 mg (200 g)

     

    重复性 (sd)5%加载)

    0.02 mg

    0.07 mg

    0.02 mg

    0.07 mg

    线性误差

    0.2 mg

    0.2 mg

    0.2 mg

    0.2 mg

    偏载误差(加载处)1

    0.3 mg (50 g)

    0.3 mg (50 g)

    0.3 mg (100 g)

    0.3 mg (100 g)

    灵敏度漂移(校验砝码)2

    0.8 mg (100 g)

    1 mg (100 g)

    0.8 mg (200 g)

    1 mg (200 g)

    灵敏度温度漂移

    0.00015%/°C

    0.00015%/°C

    0.00015%/°C

    0.00015%/°C

    灵敏度稳定性 3

    0.0002%/a

    0.0002%/a

    0.0002%/a

    0.0002%/a

    典型值

     

     

     

     

    重复性 (sd)5%加载)

    0.01 mg

    0.04 mg

    0.01 mg

    0.04 mg

     

    线性误差

    0.13 mg

    0.13 mg

    0.13 mg

    0.13 mg

    偏载误差(加载处)1

    0.15 mg (50 g)

    0.15 mg (50 g)

    0.16 mg (100 g)

    0.16 mg (100 g)

    灵敏度漂移(校验砝码)1

    0.4 mg (100 g)

    0.6 mg (100 g)

    0.6 mg (200 g)

    0.8 mg (200 g)

     

    Z小称量值(5%加载,符合 USP

    20 mg

    80 mg

    20 mg

    80 mg

     

    Z小称量值(5%加载,k=2U=1%

    2 mg

    8 mg

    2 mg

    8 mg

     

    稳定时间

    1.5 s

    1.5 s

    1.5 s

    1.5 s

    稳定时间,精细量程

    3 s

    3 s

     

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