3522-50日本日置HIOKILCR测试仪 3522-50

仪器介绍

3522-50日本日置HIOKILCR测试仪 3522-50 
低价及更好的功用和性能
 
DC, 1 mHz～100 kHz更宽范围的测量频率
 

 

5ms高速测量的LCR计 
宽频量程(DC或1mHz~100kHz) 
测量14种参数(高分辨率和高精度) 
DC电阻测量
 
本机不提供测试冶具，订货时请选择一测试冶具选件。
 

 

 

基本参数
 

 

测量参数
 |Z|，|Y|，θ，Rp（DCR），Rs（ESR，DCR）, G，X，B，Cp，Cs，Lp，Ls，D（tanδ）和Q
 
测量方法
 测量源：恒流10μ～100mA(AC/DC)，
或恒压10mV～5V(AC/DC). 检测： 电压，AC或DC
 
测量频率
 DC或者1mHz～100kHz
 
测量量程
 |Z|，|R|，X：10.00mΩ～200.00MΩ(视条件而定)
θ:-180.00～＋180.00°,C: 0.3200pF～1.0000F， 
L: 16.000nH～750.00kH， D:0.00001～9.99999
Q: 0.01～999.99, |Y|，G，B: 5.0000nS～99.999S
 
基本精度
 |Z|: ± 0.08%rdg.，θ: ± 0.05°
 
测量时间 |Z|的典型值
 快速:5ms～慢速:828ms
 
显示
 显示值99999，LCD背光功能
 
比较器功能
 设定：上、下限值，百分比或值。
输出：3档（高，中，低）,开路集电极
 
外部打印
 9442（搭配9443/9446/9593-01）
 
电源供应
 100～240V，AC，50/60Hz
 
体积及重量
 313宽 × 125高 × 290厚mm，4.5kg
 
附件
 电源线（1），保险丝（1）
 
 
 

技术参数

3522-50日本日置HIOKILCR测试仪 3522-50

主要特点

3522-50日本日置HIOKILCR测试仪 3522-50