仪器介绍
SFJ-251型氦质谱检漏仪是我公司借鉴国外先进检漏技术和多年质谱生产经验设计而成的专门用于电子元器件检漏的仪器，该设备外观采用人性化设计，操作简单、方便，将被广泛的用于集成电路封装、半导体、电子元器件、继电器、连接件、晶体谐振器、真空元器件、YL设备等行业。
技术参数
1、Z小可检漏率： 2×10-12Pa·m3/s
2、漏率显示范围： 1×10-3～1×10-12Pa·m3/s
3、启动时间： ≤5min
4、响应时间： ＜2S
5、检漏口压力： 1000Pa
6、极限真空： 10-4Pa
7、外型尺寸：700（W）×580(D)×800(H)
使用环境：
环境温度：5～35℃
相对湿度： ＜80%
供电电压：单相交流220V±10%，50Hz
工作电流：6A
主要特点
优势：
全自动控制操作模式，操作方便，检漏腔关闭，仪器自动开始检漏；
速度快，可根据检漏要求调整节拍速度,自动打开腔门；
人性化设计，带液晶显示、检漏结果清晰、自带微打；
关键部件采用进口，性能稳定、可靠。
