仪器介绍
QDI2010™ 进的紫外可见近红外显微分光光度分析系统。
无损测量样品的透射率，反射率，荧光和偏振光谱，采样面积可以小于1微米。
OLED平板显示器： OLED平板显示器代表了显示技术。QDI系列显微分光光度计可用于开发，分析和质量控制RGB和宽带电致发光磷光体，RGB和宽带电致发光磷光体用在下一代平板显示器。
QDI 2010™是紫外可见近红外显微分光光度计的新标准。
QDI 2010能够衡量光谱显微样本一次扫描完成从深紫外光到近红外光谱采集。能够分析各种样品，从纺织品纤维到200毫米的半导体硅晶片，从纳米材料到光子晶体，无论是实验室还是工厂，QDI 2010都是理想的分析仪器。
QDI 2010™预校正的光谱仪配备科研级阵列探测器。
每个阵列探测器都采用半导体冷却器制冷以达到的噪声和长期稳定性，确保仪器获得信噪比。配备科研级紫外-可见光-近红外光谱显微镜，高分辨率彩色数字成像系统，紫外屏蔽目镜，计算机服务器预装WINDOWS XP 操作系统，综合性的光谱分析/仪表控制软件包。
QDI 2010™操作简单，耐用，为使用者提供质的测试分析结果。
技术参数
QDI2010™ 进的紫外可见近红外显微分光光度分析系统。
无损测量样品的透射率，反射率，荧光和偏振光谱，采样面积可以小于1微米。
OLED平板显示器： OLED平板显示器代表了显示技术。QDI系列显微分光光度计可用于开发，分析和质量控制RGB和宽带电致发光磷光体，RGB和宽带电致发光磷光体用在下一代平板显示器。
QDI 2010™是紫外可见近红外显微分光光度计的新标准。
QDI 2010能够衡量光谱显微样本一次扫描完成从深紫外光到近红外光谱采集。能够分析各种样品，从纺织品纤维到200毫米的半导体硅晶片，从纳米材料到光子晶体，无论是实验室还是工厂，QDI 2010都是理想的分析仪器。
QDI 2010™预校正的光谱仪配备科研级阵列探测器。
每个阵列探测器都采用半导体冷却器制冷以达到的噪声和长期稳定性，确保仪器获得信噪比。配备科研级紫外-可见光-近红外光谱显微镜，高分辨率彩色数字成像系统，紫外屏蔽目镜，计算机服务器预装WINDOWS XP 操作系统，综合性的光谱分析/仪表控制软件包。
QDI 2010™操作简单，耐用，为使用者提供质的测试分析结果。
主要特点
QDI2010™ 进的紫外可见近红外显微分光光度分析系统。
无损测量样品的透射率，反射率，荧光和偏振光谱，采样面积可以小于1微米。
OLED平板显示器： OLED平板显示器代表了显示技术。QDI系列显微分光光度计可用于开发，分析和质量控制RGB和宽带电致发光磷光体，RGB和宽带电致发光磷光体用在下一代平板显示器。
QDI 2010™是紫外可见近红外显微分光光度计的新标准。
QDI 2010能够衡量光谱显微样本一次扫描完成从深紫外光到近红外光谱采集。能够分析各种样品，从纺织品纤维到200毫米的半导体硅晶片，从纳米材料到光子晶体，无论是实验室还是工厂，QDI 2010都是理想的分析仪器。
QDI 2010™预校正的光谱仪配备科研级阵列探测器。
每个阵列探测器都采用半导体冷却器制冷以达到的噪声和长期稳定性，确保仪器获得信噪比。配备科研级紫外-可见光-近红外光谱显微镜，高分辨率彩色数字成像系统，紫外屏蔽目镜，计算机服务器预装WINDOWS XP 操作系统，综合性的光谱分析/仪表控制软件包。
QDI 2010™操作简单，耐用，为使用者提供质的测试分析结果。
