产品库
登录
首页 找仪器 社区 百科 新品 供应商 品牌 应用 资料 仪企号 展会 标准 求购 招中标

3504-50 HIOKI日置C测试仪3504-50

产品信息
是否提供加工定制否类型C测试仪
品PaiHIOKI型号3504-50
测量范围0.9400pF～20.0000mF（MΩ）
封装机、分选机、电容器的合格与否的判断和等级分类等
高速测量2ms能根据C 和D （损耗系数*2）的测量值，进行被测物合格与否的判断对应测试线，比侧仪功能/触发输出功能3504-60/-50用BIN的分选接口进行被测物体的测试3504-40记录工具，实现高速/低成本的测试查出全机测量中的接触错误，提高成品率
输入用探头/测试夹具，实体不附带。按照测量目的，不同型号有不同的探头/测试夹具选件
基本参数
测量参数Cs,Cp（电容）,D（损耗系数tanδ）
测量范围C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
基本确度（代表值）C:±0.09% rdg. ±10 dgt.,D:±0.0016
※测定确度= 基本确度× B× C× D× E, B～Eは各系数
测量频率120Hz, 1kHz
测量信号电平恒定电压模式: 100mV (3504-60) 500 mV, 1 V
测量范围:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (测量频率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (测量频率 1kHz), ～ 700μF 量程 (测量频率 120Hz)
输出电阻5Ω（开路端子电压模式,上述测量范围以外）
显示发光二级管 （6行表示，满量程计算器根据量程而定）
测量时间典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※测量时间根据测量频率、测量速度的不同而不同
机能4端子控制检测功能（3504-60），BIN测量（除去3504-40），触发同时输出，储存测量条件，比较测量值的场强，平均值功能，Low-CYZ功能，鸣叫功能，控制用输出入（EXT.I/O），RS-232C界面（标准装备），GP-IB接口（3504-40除外）
电源AC 100/120/220/240V ±10%（可选择）, 50/60Hz, Z大110VA
体积及重量260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
附件电源线×1，预备电源保险丝×1
(不能单独使用，测量时需要选用测试冶具或探头)
信息声明：本产品供应信息由仪器网为您整合，供应商为（苏州博尔森贸易有限公司），内容包括 （3504-50 HIOKI日置C测试仪3504-50）的品牌、型号、技术参数、详细介绍等；如果您想了解更多关于 （3504-50 HIOKI日置C测试仪3504-50）的信息，请直接联系供应商，给供应商留言！
供应商产品推荐
    您可能感兴趣的产品