ITC57300半导体分立器件动态参数测试仪
- 型号：ITC57300
- 产地：中国大陆
- 供应商：西安天光测控技术有限公司
- 供应商报价：598
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产品库
| C57210-R | 开关特性测试单元（阻性负载） | 美军标750，方法为3472 |
| ITC57220 | 反向恢复特性测试单元 | 美军标750，方法3473 |
| ITC57230 | 栅电荷特性测试单元（MOS） | 美军标750，方法3471 |
| ITC57240 | 开关特性测试单元（感性负载） | 美军标750，方法3477 |
| ITC57250 | 短路特性测试单元 | 美军标750，方法3479 |
| ITC57300 | 分离式半导体的动态参数测试系统 |
| ITC57230 栅电荷单元 | 栅极电荷对美规格为750，方法为3471的场效应管电力装置的测试能力由ITC57230闸极电荷测试头进行检测。 电压适用于该场效应管的闸门，且当闸门打开时，恒定电流、高阻抗负载将与其漏极相连。 漏极电流将达到用户指定水平，而通过嵌入可程控的恒定电流（或得到一个P信道的装置），电荷将从被测装置的闸门移除。闸门电压会受到监测，而曲线下各部分区域可用来计算电压。 |
| ITC57210 开关特性单元 | 这一测试头检验了美规格为750、方法为3472的场效应管中N信道和P信道的转换时间（MOSFET全称为金属氧化物半导体场效应晶体管）。测量参数分别为：开通延时[td(on)]，上升时间(tr)，关断延时[td(off)]，下降时间（tf）。 |
| ITC57220 反向恢复特性单元 | ITC57220型号的测试头可对美规格为750、方法为3473的装置进行恢复时间/恢复电荷的测试。首先，电流在驱动电路感应器中增加。当达到规定电流后，切断电流，感应器中的电流将流经被测装置中的二极管。一段时间之后，再次打开驱动器，二极管将得到反向恢复。由此可得到合成波形，且可用来对反向恢复峰值电流、储存电流和恢复时间等相关数据进行分析。 |
| ITC57240 感应转换时间 | ITC57240型号的测试头可对美规格为750、方法为3473 的装置进行感应转换时间测试。 驱动器IGBT(绝缘栅双极晶体管)增强了感应器中的测试电流。当驱动器关闭时，电流将流入稳压管中。这时，打开并关闭被测装置，便可开始进行转换时间和转换能量的测试。在转换过程中，无需任何来自续流二极管的反向恢复元件，被测装置中的测试电流便可流入感应器，而电压可通过稳压管。 |
| ITC57250 短路特性 | ITC57250型号的测试头可对美规格为750、方法为3479的装置进行短路承受时间测试。 在一些电路中，如电机驱动，其半导体装置必须在短时间内承受住短路的情况。这一测试可以检测一个装置的承受时间。其中的电流将取决于该装置的增益和应用驱动的脉宽。 |
