镀层膜厚测试仪性能，可测量任一测量点，Z小可达0.025 x 0.051毫米。能够测量包含原子序号13至92的典型元素的电镀层、镀层、表膜和液体,极薄的浸液镀层（银、金、钯、锡等）和其它薄镀层。区别材料并定性或定量测量合金材料的成份百分含量可同时测定Z多5层、15 种元素。 精确度领先于世界，精确到0.025um （相对与标准片）
数据统计报告功能允许用户自定义多媒体分析报告格式，以满足您特定的分析报告格式要求 ；如在分析报告中插入数据图表、测定位置的图象、CAD文件等。 统计功能提供数据平均值、误差分析、值、Z小值、数据变动范围、相对偏差、UCL（控制上限）、LCL（控制下限）、CpK图、直方图、X-bar/R图等多种数据分析模式。 XULM X射线荧光测厚仪能够测量多种几何形状各种尺寸的样品；
膜厚仪操作 WINWIF系统、WIN系统及FIM系统，其Z适合用于微电子器件、数据偶合器、光通讯和数据贮存、半导体、光通讯、微电子、光子学、无源器件和薄层磁头金属化分析等。
膜厚仪操作，博曼膜厚仪能提供各类金属层、合金层厚度的快速、准确、稳定、无损的测量，同时可对电镀液进行分析，不单性能优越,而且价钱超值，同比其他Pai子相同配置的机器菲希尔镀层测厚仪 为您大大节省成本。是线路板、五金电镀、首饰、端子等行业的。
金东霖欢迎各行业的朋友来电咨询、了解或参观相关仪器设备.高精度BOWMAN博曼双探测器膜厚测试仪应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属，PCB等多个领域.让客户满意，为客户创造的价值是金东霖追求的目标，因为我们坚信，客户的需要就是我们前进的动力。愿我们成为真诚的合作伙伴、共同描绘双方的发展蓝图
