供应半导体X射线膜厚测试仪

 美国博曼膜厚仪俗称镀层测厚仪，膜厚测试仪，X-RAY膜厚仪等等） 主要检测金属镀层膜厚厚度的仪器，保证镀层厚度品质，减少电镀成本浪费 产品副名称：应用范围较广的标准型镀层厚度测量仪 分析:详述.元素范围铝13到铀92。.x射线激发能量50 W（50 kv和1 ma）钨靶射线管.探测器硅PIN检测器250 ev的分辨率或更高的分辨率.测量的分析层和元素5层（4层镀层+基材）和10种元素在每个镀层成分分析的同时多达25元素，应用于.五金,电镀,端子.连接器.金属等多个领域.所有从17号元素氯到92号元素镭的所有元素都能准确测定.可测量：单一镀层：Zn， Ni，Cr，Cu，Ag，Au，Sn等。