牛津CMI165面铜测厚仪，OXFORD-165铜箔测厚仪
- 产地：中国大陆
- 供应商：北京美特迩环保仪器有限公司
- 供应商报价：电议
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产品库
－－ 可测试高温的PCB铜箔
－－ 显示单位可为mils，μm或oz
－－ 可用于铜箔的来料检验
－－ 可用于蚀刻或整平后的铜厚定量测试
－－ 可用于电镀铜后的面铜厚度测试
－－ 配有SRP-T1，带有温度补偿功能的面铜测试头
－－ 可用于蚀刻后线路上的面铜厚度测试
－－带温度补偿功能
－－厚度测量范围：化学铜：(0.25-12.7)μm,(0.01-0.5) mils
－－电镀铜：(2.0-254)μm, (0.1-10) mils
－－仪器再现性: 0.08 μm at 20 μm (0.003 mils at 0.79 mils)
