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122-142日本三丰薄片型千分尺

产品信息
特点：
1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型，可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。
2.可用硬质合金测量面。
3.非旋转测微螺杆型。
4.棘轮锁紧装置可保持恒定测力。
122-142日本三丰薄片型千分尺
薄片型千分尺
422,122  系列 — 非旋转测微螺杆型
BLM-M/QM·BLM
122-142产品特点
1.测砧和测微螺杆的端面为薄片型，可用于测量花键轴、 键槽等不易测量位置的凹槽尺寸。
2.可用硬质合金测量面。
3.非旋转测微螺杆型。
4.棘轮锁紧装置可保持恒定测力。
122-142参数规格
平行度 : 
测量范围小于 75mm 型为 3μm
测量范围大于 75mm 型为 ( 3+R/100 ) μm,
R 为测量范围 ( mm ) ，小数圆整
类型与尺寸


422  系列电池
SR44  ( 1  个 ) , 938882,  用于初始操作检查 ( 标准附件 )
选件
连接电缆
  1m: 05CZA662
  2m: 05CZA663
USB Input Tool
  USB-ITN-B  ( 2m ) : 06ADV380B
连接电缆
  1m: 937387
  2m: 965013
USB Input Tool
  USB-ITN-E  ( 2m ) : 06ADV380E
Quickmike
Quickmike的快速进给速度可达 10mm/rev,可快速测量不同形状的工件。
垂直方向上的测砧和测微螺杆之间的偏差

产品选型
公制型
货号
测量范围
分辨力
精度 *
备注
数显型 ( LCD)
422-230
0 - 25mm
0.001mm
±3µm
A 型
422-231
25 - 50mm
422-232
50 - 75mm
422-233
75 - 100mm
±4µm
422-260
0 - 25mm
±3µm
B 型
422-261
25 - 50mm
422-270
0 - 25mm
C 型
422-271
D 型
* 不包括量化偏差
公制型(Quickmike 型)
货号
测量范围
分辨力
精度 *
备注
数显型 ( LCD)
422-411
0 - 30mm
0.001mm
±3µm
A 型
422-412
25 - 50mm
* 不包括量化偏差
公制型：
货号
测量范围
分辨力
精度 *
备注
普通型
122-101
0 - 25mm
0.01mm
±3µm
A 型
122-102
25 - 50mm
122-103
50 - 75mm
122-104
75 - 100mm
±4µm
122-105
100 - 125mm
122-106
125 - 150mm
122-107
150 - 175mm
±5µm
122-108
175 - 200mm
122-109
200 - 225mm
122-110
225 - 250mm
±6µm
122-115
250 - 275mm
122-116
275 - 300mm
122-111
0 - 25mm
0.01mm
±3µm
B 型
122-112
25 - 50mm
普通型
 
122-161
0 - 25mm
0.01mm
±3µm
C 型
122-162
25 - 50mm
122-141
0 - 25mm
D 型
122-142
25 - 50mm
注 : 1 ) 数显型和 422-230 型提供一个隔热罩作为标准配件。
产品图片：


产品尺寸：

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