产品库
登录
首页 找仪器 社区 百科 新品 供应商 品牌 应用 资料 仪企号 展会 标准 求购 招中标

绝缘材料介电常数测试仪高频

产品信息
绝缘材料介电常数测试仪高频
数据采集和tanδ自动测量控件（装入WGJSTD-B或B1)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。
绝缘材料介电常数测试仪高频
本公司今日报道:绝缘材料介电常数测试仪高频
4.2.4电场强度
存在界面极化时，自由离子的数目随电场强度增大而增加，其损耗指数大值的大小和位置也随此而变。
在较高的频率下，只要电介质中不出现局部放电，电容率和介质损耗因数与电场强度无关。
5、试样和电极
5.1固体绝缘材料
5.1.1试样的几何形状
测定材料的电容率和介质损耗因数，Z好采用板状试样，也可采用管状试样。
在测定电容率需要较高精度时，大的误差来自试样尺寸的误差，尤其是试样厚度的误差，因此厚度应足够大，以满足测量所需要的度。厚度的选取决定于试样的制备方法和各点间厚度的变化。对1%的度来讲，1.5mm的厚度就足够了，但是对于更高度，Z好是采用较厚的试样，例如6mm?12mm。测量厚度必须使测量点有规则地分布在整个试样表面上，且厚度均匀度在±1%内。如果材料的密度是已知的，则可用称量法测定厚度。选取试样的面积时应能提供满足精度要求的试样电容。测量10pF的电容时，使用有良好屏蔽保护的仪器。由于现有仪器的极限分辨能力约1pF，因此试样应薄些，直径为10cm或更大些。
需要测低损耗因数值时，很重要的一点是导线串联电阻引人的损耗要尽可能地小，即被测电容和该电阻的乘积要尽可能小。同样，被测电容对总电容的比值要尽可能地大。点表示导线电阻要尽可能低及试样电容要小,第二点表示接有试样桥臂的总电容要尽可能小，且试样电容要大。因此试样电容Z好取值为20pF，在测量回路中，与试样并联的电容不应大于约5pF
高频介质损耗测试系统由S916测试装置（夹具）、WGJSTD-B/B1型介质损耗及介电常数测试仪、数据采集和tanδ自动测量控件（装入WGJSTD-B或B1、及LKI-1型电感器组成，它依据国标GB/T 1409-2006、美标ASTM D150以及国际电工委员会IEC60250的规定设计制作。系统提供了绝缘材料的高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)自动测量的解决方案。 绝缘材料介电常数测试仪高频
1、《S916介质损耗装置》(测试夹具)是测试系统的核心检测部件，它由一个LCD数字显示的微测量装置和一对经精密加工的、间距可调的平板电容器极片组成。平板电容器极片用于夹持被测材料样品，微测量装置则显示被测材料样品的厚度。通过被测材料样品放进平板电容器和不放进样品时的Q值变化的量化，测得绝缘材料的损耗角正切值。从平板电容器平板间距的读值变化则可换算得到绝缘材料介电常数。S916介质损耗测试装置是本公司研制的更新换代产品，精密的加工设计、精确的LCD数字读出、一键式清零功能，克服了机械刻度读数误差和圆筒形电容装置不可避免的测量误差。
2、基于串联谐振原理的《WGJSTD-B/B1介质损耗及介电常数仪》是测试系统的二次仪表，其数码化主调电容器的创新设计代表了行业的成就，随之带来了频率、电容双扫描(B1型)的全新搜索功能。该表具有先进的人机界面，采用LCD液晶屏显示各测量因子：Q值、电感L、主调电容器C、测试频率F、谐振趋势指针等。高频信源采用直接数字合成,测试频率10KHz-60MH或200KHz-160MHz，频率精度高达1×10-6。国标GB/T 1409-2006规定了用Q表法来测定电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)，把被测材料作为平板电容的介质，与辅助电感等构成串联谐振因子引入Q表的测试回路，以获取的测试灵敏度。因而Q表法的测试结果更真实地反映了介质在高频工作状态下的特征。
     WGJSTD-B/B1介质损耗及介电常数仪的全数字化界面和微机控制使读数清晰稳定、操作简便。操作者能在任意点频率或电容值的条件下检测Q值甚至tanδ，无须关注量程和换算，彻底摒弃了传统Q表依赖面板上印制的辅助表格操作的落后状况，它无疑是电工材料高频介质损耗角正切值(tanδ)和介电常数(ε)测量的理想工具。
 3、数据采集和tanδ自动测量控件（装入WGJSTD-B或B1)，实现了数据采集、数据分析和计算的微处理化，tanδ 测量结果的获得无须繁琐的人工处理，因而提高了数据的精确度和测量的同一性，是人工读值和人工计算无法比拟的。 绝缘材料介电常数测试仪高频
   4、一个高品质因数（Q)的电感器是测量系统必不可少的辅助工具，关乎测试的灵敏度和精度，在系统中它与平板电容（S916）构成了基于串联谐振的测试回路。本系统推荐的电感器为LKI-1电感组，共由9个高性能电感器组成，以适配不同的检测频率。
介电常数测试仪介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数（ε），可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器广泛应用于大专院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。
对于一定的物体，都存在一个固有谐振频率。当物体的体积、材质一定时，该物体的谐振频率仅与其密度有关。物体的强度与其密度有关，因此物体的固有振动频率决定了物体强度。若能够测量出该物体的谐振频率，就可以根据强度理论推算出物体的强度。本仪器就是测量物体谐振频率计算出物体弹性模量的仪器。可对陶瓷、石墨、玻璃、塑料、金属材料等进行测量。广泛应用在各企业、科研单位、高等院校、质检部门等。
介质损耗和介电常数是各种电瓷、装置瓷、电容器等陶瓷的一项重要的物理性质，通过测定介质损耗角正切tanδ及介电常数(ε)，可进一步了解影响介质损耗和介电常数的各种因素，为提高材料的性能提供依据；该仪器广泛应用于大专院校、科研院所对无机非金属新材料性能的应用研究。

一、 概述：

本测试仪器主要测试液体介电常数，测量范围宽，测量数据稳定性高，直接读数，操作简单，是测试液体类介电常数的有效测量工具。

二、 测量方法：

1、 把主机放置在水平桌面上，通电后开机，热机10分钟

2、 用乙醇溶剂清洗油杯和电极，保持清洁和干燥

3、 倒入适量液体到油杯中，容量保证能被电极浸入即可

4、 把电极与主机连接后，放入油杯液体中

5、 直接显示测试结果，当前显示数值为：介电常数

三、 随机配置： 绝缘材料介电常数测试仪高频

1、 主机： 一台

2、 电极：一个

3、 油杯：一个

4、 电源线：一条

5、 合格证：一份

6、 说明书：一份

《JJG563-2004高压电容电桥检定规程》

《JB1811-92压缩气体标准电容器》

《GB1409-2006固体绝缘材料相对介电常数和介质损耗因数的试验方法》

高压电桥主要用于测量高压工业绝缘材料的介质损失角的正切值及电容量。其采用了西林电桥的经典线路。电桥由桥体、指另仪、跟踪器组成，本电桥特别适用测量各类绝缘油和绝缘材料的介损（tgδ）及介电常数（ε）。

介电常数介质损耗试验仪的技术指标 1．Q值测量 a．Q值测量范围：2～1023。 b．Q值量程分档：30、100、300、1000、自动换档或手动换档。 c．标称误差 项 目 GDAT-A 频率范围 20kHz～10MHz； 固有误差 ≤5％±满度值的2％； 工作误差 ≤7％±满度值的2％； 频率范围 10MHz～60MHz； 固有误差 ≤6％±满度值的2％； 工作误差 ≤8％±满度值的2％。 2．电感测量范围：14.5nH~8.14H 3．介电常数介质损耗试验仪电容测量：1~ 460 项 目 GDAT-A 直接测量范围 1～460pF 主电容调节范围 准确度 30～500pF 150pF以下±1.5pF； 150pF以上±1％ 注：大于直接测量范围的电容测量见使用规则 4．介电常数介质损耗试验仪信号源频率覆盖范围 项 目 GDAT-A 频率范围 10kHz～50MHz 频率分段 (虚拟) 10～99.9999kHz 100～999.999kHz 1～9.99999MHz 10～60MHz 频率指示误差 3×10-5±1个字 5．Q合格指示预置功能 预置范围：5～1000。 6．Q表正常工作条件 a. 环境温度：0℃～+40℃； b．相对湿度：<80％； c．电源：220V±22V，50Hz±2.5Hz。 7．其他 a．消耗功率：约25W； b．净重：约7kg； c. 外型尺寸：(l×b×h)mm：380×132×280。 绝缘材料介电常数测试仪高频

验收标准：试验机按订货技术附件进行验收。终验收在买方进行，对用户提供的试样进行试验，并提供测试报告。 

培训：安装调试同时，在仪器操作现场一次性免费培训操作人员2-3名，该操作人员应是由需方选派的长期稳定的员工，培训后能够对设备基本原理、软件使用、操作、维护事项理解和应用，使人员能够独立操作设备对样品进行检测、分析，同时能进行基本的维护。 

本标准规定了在15Hz?300MHz的频率范围内测量电容率、介质损耗因数的方法，并由此计算某些数值，如损耗指数。本标准中所叙述的某些方法，也能用于其他频率下测量。

本标准适用于测量液体、易熔材料以及固体材料。测试结果与某些物理条件有关，例如频率、温度、湿度，在特殊情况下也与电场强度有关。

有时在超过1000V的电压下试验，则会引起一些与电容率和介质损耗因数无关的效应，对此不予论述。

绝缘纸介电常数介质损耗测试仪2、规范性引用文件

下列文件中的条款通过本标准的引用而成为本标准的条款。凡是注日期的引用文件，其随后所有的修改单（不包括勘误的内容）或修订版均不适用于本标准，然而，鼓励根据本标准达成协议的各方研究是否可使用这些文件的Z新版本。凡是不注日期的引用文件，其Z新版本适用于本标准。

IEC60247:1978  液体绝缘材料相对电容率、介质损耗因数和直流电阻率的测量

金属箔电极

用极少量的硅脂或其他合适的低损耗粘合剂将金属箔贴在试样上。金属箔可以是纯锡或铅，也可以是这些金属的合金，其厚度为100μm，也可使用厚度小于10μm的铝箔。但是，铝箔在较高温度下易形成一层电绝缘的氧化膜，这层氧化膜会影响测量结果，此时可使用金箔。

阴极蒸发或高真空蒸发金属电极

假如处理结果既不改变也不破坏绝缘材料的性能，而且材料承受高真空时也不过度逸出气体，则本方法是可以采用的。这一类电极的边缘应界限分明。

汞电极和其他液体金属电极

把试样夹在两块互相配合好的凹模之间，凹模中充有液体金属，该液体金属必须是纯净的。汞电极不能用于高温，即使在室温下用时，也应采取措施，这是因为它的蒸气是有毒的。

伍德合金和其他低熔点合金能代替汞。但是这些合金通常含有镉，镉象汞一样，也是毒性元素。这些合金只有在良好抽风的房间或在抽风柜中才能用于100℃以上，且操作人员应知道可能产生的健康危害。 绝缘材料介电常数测试仪高频


信息声明：本产品供应信息由仪器网为您整合，供应商为（北京冠测精电仪器设备有限公司），内容包括 （绝缘材料介电常数测试仪高频）的品牌、型号、技术参数、详细介绍等；如果您想了解更多关于 （绝缘材料介电常数测试仪高频）的信息，请直接联系供应商，给供应商留言！
供应商产品推荐
    您可能感兴趣的产品