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JC03-LT-3 单晶少子寿命测试仪

产品信息
单晶少子寿命测试仪 硅单晶非平衡少数载流子寿命测量仪
型号JC03-LT-3
特点:
该仪器参考美国A.S.T.M标准而设计的用于测量硅单晶的非平衡少数载流子寿命；
测试单晶电阻率范围：>0.3Ω.cm；
可测单晶少子寿命范围：1μS-10000μS；
配备光源类型：红外光源，波长：1.09μm；
余辉<1μS；闪光频率为：20-30次／秒；
前置放大器：放大倍数约25；
测量方式：采用对标准曲线读数方式；
信息声明：本产品供应信息由仪器网为您整合，供应商为（北京北信未来电子仪器有限公司），内容包括 （JC03-LT-3 单晶少子寿命测试仪 ）的品牌、型号、技术参数、详细介绍等；如果您想了解更多关于 （JC03-LT-3 单晶少子寿命测试仪 ）的信息，请直接联系供应商，给供应商留言！
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