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ROHS及无卤素检测仪 X射线荧光光谱仪 ROHS及无卤素测试仪

产品信息
JC502-X5600是一种体现X射线荧光分析技术进展的能量色散X射线荧光光谱仪。可进行无卤素(氯Cl、溴Br、碘I)测量它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单
 产品详情:   
JC502-X5600是一种体现X射线荧光分析技术进展的能量色散X射线荧光光谱仪。可进行无卤素(氯Cl、溴Br、碘I)测量它采用低功率小型X光管为激发源,电制冷硅半导体探测器为探测单元,再加上我公司专门开发的应用软件,充分发挥各部件的优异性能,保证了整台仪器的高分辨率及通用适应性。任何需要多元素同时分析的地方,正是它大有作为之处。下面将该仪器的资料作简单介绍。 

整机技术规格: 
激发源:本机采用低功率 X 射线管(Ag靶),电压可达50KV,电流1mA 
高压电源:50W,50KV,1mA 
探测器:电制冷   Si PIN半导体探测器(55Fe的能量为5.9Kev的MnKα线,分辨率优于149eV) 
多道分析器:2048道 
软件:基于WINDOWS的强大工作软件。定量分析包括:经验系数法,理论a系数法和基本参数法。定性分析包括: KL线标记,谱图比较和光标寻峰等。客户可进行二次开发,自行开发任意多个分析方法。 
6电源:交流220V  50Hz 
7体积:520mm  x  600mm  x  270mm 
8重量:约 42kg  (主机) 

整机技术性能: 
测量元素范围宽:从铝(13)至铀(92)都可测量 
可测量含量范围,从ppm至 
测量速度快,通常为几十秒到几分钟 
多元素同时定性定量 
蜂位漂移:八小时小于1% 

进口探测器的性能指标: 
探测器类型:电制冷Si-PIN 
探测面积:2.4x2.8mm(6mm2) 
硅活化区厚度:500um 
探测器分辨率: 对于55Fe,@5.9keV  对于12us的形成时间,半高宽为149Ev 
探测器窗口:铍窗,12.5um厚 

进口高压电源规格: 
电压和电流从零至满量程连续可调,50KV,1mA 
电压调整率:负载调整率:从空载到满载,电压变化为满量程的 0.01 % 
线性调整率:对于规定的输入电压范围,该数值为满量程的0.01% 
电流调整率:负载调整率:从空载到满载,电流变化为满量程0.01% 
              线性调整率:对于规定的输入电流范围,该数值为满量程的0.01% 
稳定性:经过半小时预热后,每8小时变化不超0.05% 
温度系数:温度变化一度,电压变化不超过0.01% 

详细参数: 
测量范围:Pb,Hg,Cr,Cd,Br,Cl 
测量精度:低于100ppm时精确度15ppm,大于100ppm时,精确度15% 
分析元素:Pb,Hg,Cr,Cd,Br,Cl 
检出限:Pb:3.2 mg/kg (ppm) 
          Hg:3.2 mg/kg (ppm) 
          Cr:4.1 mg/kg (ppm) 
          Cd:5.8 mg/kg (ppm) 
          Br:3.1 mg/kg (ppm) 
          Cl:2.4 mg/kg (ppm) 
测量时间:30秒——120秒可选 
X射线源:X光管 
工作环境温度:10℃——45℃ 
工作环境湿度:20%——80% 
高压器:50Kv 
操作系统:windows XP
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