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禾苗 深圳 镀层测厚仪,rohs仪器,rohs检测仪,元素分析仪,分析仪器
型号:
E3
产地:
中国大陆
供应商:
深圳市禾苗分析仪器有限公司
供应商报价:
电议
标签:
禾苗 深圳 镀层测厚仪,rohs仪器,rohs检测仪,元素分析仪,分析仪器,分析仪器,光谱仪器,供应禾苗 深圳 镀层测厚仪,rohs仪器,rohs检测仪,元素分析仪,分析仪器,深圳市禾苗分析仪器有限公司
产品信息
3是一款通用型能量色散型X射线荧光光谱仪(EDXRF);其核心部件采用美国进口,软件算法采用美国EDXRF前沿技术,仪器所用标准样品均有权威第三方检测机构报告;采用小光斑设计,对大型PCB板小测试点精确定位,避免材质干扰;开放性可调样品台,应对各种大型PCB板,无需拆分即可直接测试
产品规格:
● 外形尺寸:360 mm x 600mm x 385 mm (长x宽x高)
● 样品仓尺寸:360mm×400mm x160(长x宽x高,高度可定制)
●仪器重量:50kg
●供电电源:AC220V/ 50Hz
●功率:330W
●工作温度:15-30℃
●相对湿度:≤85%,不结露
产品特点:辐射保护
● 样品盖镶嵌铅板屏蔽X射线
● 辐射标志警示
●仪器经权威第三方检测,X射线剂量率完全符合GB18871-2002《电离辐射防护与辐射源安全基本标准》
硬件技术
● X射线下照式,激光对焦可调样品仓,对于大件样品、异形不平整样品,无需拆分打磨,可直接测试
● 模块化准直器,根据分析元素,配备不同材质准直器,从而降低准直器对分析元素的影响,提高元素分辨率
● Z小光斑0.2mm,可针对各种样品中的小测试点精确定位,避免材质干扰,测量结果更准确
● 空气动力学设计,加速光管冷却,有效降低仪器内部温度;静音设计
●电路系统符合EMC、FCC测试标准
软件技术(HeLeeX ED Workstation V3.0)
● 分析元素:Na~U之间元素
● 分析时间:90秒
● 界面简洁,模块化设计,功能清晰,易操作
● 数据一键备份,一键还原、一键清理功能,保护用户数据安全
● 根据不同基体样品,配备三种算法,增加样品测试JZ度
● 配备开放式分析模型功能,客户可自行建立自己的工作模型
应用领域:
● RoHS检测:Pb(铅)、Cd(镉)、Hg(汞)、Cr(铬)
● 卤素检测:Br(溴)、Cl(氯)
● 镀层测试:应对各种基材镀Au、Ag、Cu、Ni、Sn、Zn等
信息声明:
本产品供应信息由仪器网为您整合,供应商为
(深圳市禾苗分析仪器有限公司)
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