产品库

首页找仪器社区百科新品供应商品牌应用资料仪企号展会标准求购招中标

白银多角度成像光谱仪|sentech椭偏仪|质量好，安全性能高

产地：中国大陆
供应商：河北慧采科技有限公司
供应商报价：电议
标签：白银多角度成像光谱仪|sentech椭偏仪|质量好，安全性能高,行业仪器,建筑工程,供应白银多角度成像光谱仪|sentech椭偏仪|质量好，安全性能高,河北慧采科技有限公司

产品信息

产品简介:特别声明：$nEM01-RD多入射角激光椭偏仪（研发级）已升级至EMPro31 型多入射角激光椭偏仪，主要升级内容包括：$n单次测量速度提高3倍;$n新的仪器外形;$n整体稳定性增强. $n纳米薄膜高

产品简介:$n $n特别声明：$nEM01-RD多入射角激光椭偏仪（研发级）已升级至EMPro31 型多入射角激光椭偏仪，主要升级内容包括：$n单次测量速度提高3倍;$n新的仪器外形;$n整体稳定性增强. $n纳米薄膜高端研发领域专用的多入射角激光椭偏仪，用于纳米薄膜的厚度、折射率n、消光系数k等参数的测量。适用于光面或绒面纳米薄膜测量、块状固体参数测量、快速变化的纳米薄膜实时测量等不同的应用场合。采用量拓科技多项专利技术，仪器操作具有个性化定制功能，方便使用。$n特点：$n高精度、高稳定性$n 一体化集成设计$n快速、高精度样品方位对准$n多入射角度测量$n快速反应过程的实时测量$n操作简单$n丰富的材料库及物理模型$n强大的数据分析和管理 $n应用领域：$n可对纳米薄膜层构样品的薄膜厚度、折射率n及消光系数k进行快速、高精度、高准确度的测量，尤其适合于科研和工业产品环境中的新品研发$n可用于表征单层纳米薄膜、多层纳米层构膜系，以及块状材料（基底）。$n应用领域涉及纳米薄膜的几乎所有领域，如微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、电化学、磁介质存储、聚合物及金属表面处理等。$n性能保证：$n高稳定性的He-Ne激光光源、高精度的采样方法以及低噪声探测技术，保证了系统的高稳定性和高准确度$n.高精度的光学自准直望远系统，保证了快速、高精度的样品方位对准$n稳定的结构设计、可靠的样品方位对准，结合先进的采样技术，保证了快速、稳定测量$n分立式的多入射角选择，可应用于复杂样品的折射率和厚度的测量$n一体化集成式的仪器结构设计，使得系统操作简单、整体稳定性提高，并节省空间$n专用软件方便纳米薄膜样品的测试和建模。 $n技术指标：
n $n $n $n 激光波长$n $n $n $n 632.8nm (He-Ne laser)$n $n $n $n $n 膜厚测量重复性$n $n $n 0.01nm (对于Si基底上110nm的SiO2膜层)$n $n $n
白银多角度成像光谱仪|sentech椭偏仪|质量好，安全性能高多种型号图片
$n $n$n$n$n $n $n$n$n$n $n


型号:JX200092ETSys-Map-PV在线薄膜测量系统	型号:JX200099EMPro 型多入射角激光椭偏仪	型号:JX200097EM01-RD 多入射角激光椭偏仪

白银多角度成像光谱仪|sentech椭偏仪|质量好，安全性能高
热门搜索:
ETSys-Map-PV在线薄膜测量系统 EMPro 型多入射角激光椭偏仪 EM01-RD 多入射角激光椭偏仪 EMPro-PV 型多入射角激光椭偏仪（光伏专用） EX2自动椭圆偏振测厚仪 EM12-PV 精致型多入射角激光椭偏仪（光伏专用）

【河北德科机械科技有限公司】质量服务AAA企业★★诚信经营示范单位★★国家标准合格产品★★10年品Pai保证★★创新科技先锋品Pai★★拨打电话请告诉我产品订货号，热线：【牛经理400-076-1255】

【白银多角度成像光谱仪|sentech椭偏仪|质量好，安全性能高一共有★★30★★多种型号以上只显示1-3种型号，如没有合适您的产品请咨询河北润联科技公司】
白银多角度成像光谱仪|sentech椭偏仪|质量好，安全性能高多种型号内容

型号:JX200092ETSys-Map-PV在线薄膜测量系统

$n

$n ETSys-Map-PV是针对高端薄膜太阳电池研发和质量控制领域中大面积样品检测专门设计的在线薄膜测量系统。
$n    ETSys-Map-PV用于对1.4m * 1.1m及以上的大面积薄膜太阳电池样品进行在线检测。可测量光滑平面或粗糙表面基底上的纳米薄膜，包括单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k；并可同时测量块状材料的折射率n和消光系数k。可测量样品上指定区域的样品参数以及样品表面的均一性分布。
$n    ETSys-Map-PV融合量拓科技在高精度激光椭偏仪及光伏在太阳能电池领域的先进技术和产品设计方面的经验，性能。
$n特点:
$n大面积绒面样品上全表面测量
$n可对大面积绒面薄膜太阳电池样品上各点的性质进行分析和比较。先进的光能量增强技术、低噪声的探测器件以及高信噪比的微弱信号处理方法，实现了对粗糙表面散射为主和极低反射率为特征的绒面太阳电池表面镀层的高灵敏检测。
$n微米量级的全面积扫描精度
$n先进的系统设计，能够使探头到达样品上每个点，扫描精度达到微米量级。
$n原子层量级的膜厚分析精度
$n采用非接触、无破坏性的椭偏测量技术，对纳米薄膜达到极高的测量准确度和灵敏度，膜厚测量灵敏度可达到0.05nm。
$n简单方便安全的仪器操作
$n用户只需一个按钮即可完成复杂的材料测量和分析过程，数据一键导出。丰富的模型库、材料库方便用户进行高级测量设置。
$n应用:
$n      ETSys-Map-PV适合于高精度要求的薄膜太阳电池研发和质量控制。
$n ETSys-Map-PV可用于测量大面积的薄膜太阳电池样品上单层或多层纳米薄膜层构样品的薄膜厚度、折射率n及消光系数k；
$n ETSys-Map-PV可用于测量块状材料的折射率n及消光系数k；
$n ETSys-Map-PV可应用于：
$n大面积薄膜太阳电池基底的材料测量
$n薄膜太阳电池玻璃基底上透明导电氧化物（TCO）镀膜测量
$n $n技术指标:$n$n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n

$n 项目 $n	$n 技术指标 $n
$n 系统型号 $n	$n ETSys-Map-PV $n
$n 结构类型 $n	$n 在线式 $n
$n 激光波长 $n	$n 632.8nm (He-Ne laser) $n
$n 膜厚测量重复性（1） $n	$n 0.05nm (对于Si基底上100nm的SiO2膜层) $n
$n 折射率n精度（1） $n	$n 5x10-4 (对于Si基底上100nm的SiO2膜层) $n
$n 结构 $n	$n PSCA $n
$n 激光光束直径 $n	$n ~1 mm $n
$n 入射角度 $n	$n 60°-75°可选 $n
$n 样品放置 $n	$n 放置方式：水平 $n 运动：X轴单方向运动 $n 运动范围：>1.4m $n 三维平移调节 $n 二维俯仰调节 $n 可对样品进行扫描测量 $n
$n 样品台尺寸 $n	$n 1.4m*1.1m，并可定制。 $n
$n 测量速度 $n	$n 典型0.6s-4s /点（取决于样品种类及测量设置） $n
$n 的膜层厚度测量范围 $n	$n 光滑平面样品：透明薄膜可达4000nm，吸收薄膜与材料性质相关 $n
$n 选配件 $n	$n 样品监视系统 $n 自动样品上片系统 $n

$n 注：（1）测量重复性：是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量25次所计算的标准差。
$n性能保证
$n高稳定性的He-Ne激光光源、高精度的采样方法以及低噪声探测技术，保证了系统的高稳定性和高准确度
$n稳定的结构设计、可靠的样品方位对准，结合先进的采样技术，保证了快速、稳定测量
$n一体化集成式的结构设计，使得系统操作简单、整体稳定性提高
$n一键式软件设计以及丰富的物理模型库和材料数据库，方便用户使用
$n 可选配件：
$n NFS-SiO2/Si二氧化硅纳米薄膜标片
$n NFS-Si3N4/Si氮化硅纳米薄膜标片

$n

栏目页面:http://www.runlian365.com/product/4516.html
光谱椭偏仪
来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200092.html
ETSys-Map-PV在线薄膜测量系统
型号:JX200099EMPro 型多入射角激光椭偏仪

$n

$nMPro是针对高端研发和质量控制领域推出的型多入射角激光椭偏仪。
$nEMPro可在单入射角度或多入射角度下进行高精度、高准确性测量。可用于测量单层或多层纳米薄膜样品的膜层厚度、折射率n和消光系数k；也可用于同时测量块状材料的折射率n和消光系数k；亦可用于实时测量快速变化的纳米薄膜动态生长中膜层的厚度、折射率n和消光系数k。多入射角度设计实现了纳米薄膜的厚度测量。
$nEMPro采用了量拓科技多项专利技术。
$n特点：
$n原子层量级的极高灵敏度
$n国际先进的采样方法、高稳定的核心器件、高质量的制造工艺实现并保证了能够测量原子层量级的极薄纳米薄膜，膜厚精度达到0.01nm，折射率精度达到0.0001。
$n百毫秒量级的快速测量
$n国际水准的仪器设计，在保证极高精度和准确度的同时，可在几百毫秒内快速完成一次测量，可满足单原子膜层生长的实时测量。
$n简单方便的仪器操作
$n用户只需一个按钮即可完成复杂的材料测量和分析过程，数据一键导出。丰富的模型库、材料库方便用户进行高级测量设置。
$n应用：
$nEMPro适合于高精度要求的科研和工业产品环境中的新品研发或质量控制。
$nEMPro可用于测量单层或多层纳米薄膜层构样品的薄膜厚度、折射率n及消光系数k；可用于同时测量块状材料的折射率n和消光系数k；可用于实时测量快速变化的纳米薄膜的厚度、折射率n和消光系数k。
$nEMPro可应用的纳米薄膜领域包括：微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、化学、电化学、磁介质存储、平板显示、聚合物及金属表面处理等。可应用的块状材料领域包括：固体（金属、半导体、介质等），或液体（纯净物或混合物）。
$n技术指标：$n

$n$n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n

$n 项目 $n	$n 技术指标 $n
$n 仪器型号 $n	$n EMPro31 $n
$n 激光波长 $n	$n 632.8nm (He-Ne Laser) $n
$n 膜厚测量重复性（1） $n	$n 0.01nm (对于平面Si基底上100nm的SiO2膜层) $n
$n 折射率测量重复性(1) $n	$n 1x10-4 (对于Si基底上100nm的SiO2膜层) $n
$n 单次测量时间 $n	$n 与测量设置相关，典型0.6s $n
$n 结构 $n	$n PSCA（Δ在0°或180°附近时也具有极高的准确度） $n
$n 激光光束直径 $n	$n 1mm $n
$n 入射角度 $n	$n 40°-90°可手动调节，步进5° $n
$n 样品方位调整 $n	$n Z轴高度调节：±6.5mm $n 二维俯仰调节：±4° $n 样品对准：光学自准直和显微对准系统 $n
$n 样品台尺寸 $n	$n 平面样品直径可达Φ170mm $n
$n 的膜层范围 $n	$n 透明薄膜可达4000nm $n 吸收薄膜则与材料性质相关 $n
$n 外形尺寸 $n	$n 887 x 332 x 552mm (入射角为90º时) $n
$n 仪器重量（净重） $n	$n 25Kg $n
$n 选配件 $n	$n 水平XY轴调节平移台 $n 真空吸附泵 $n
$n 软件 $n	$n ETEM软件： $n l 中英文界面可选； $n l 多个预设项目供快捷操作使用； $n l 单角度测量/多角度测量操作和数据拟合； $n l 方便的数据显示、编辑和输出 $n l 丰富的模型和材料数据库支持 $n

$n
$n
$n 注：(1)测量重复性：是指对标准样品上同一点、同一条件下连续测量25次所计算的标准差。
$n性能保证：
$n高稳定性的He-Ne激光光源、先进的采样方法以及低噪声探测技术，保证了高稳定性和高准确度
$n高精度的光学自准直系统，保证了快速、高精度的样品方位对准
$n稳定的结构设计、可靠的样品方位对准，结合先进的采样技术，保证了快速、稳定测量
$n分立式的多入射角选择，可应用于复杂样品的折射率和厚度的测量
$n一体化集成式的仪器结构设计，使得系统操作简单、整体稳定性提高，并节省空间
$n一键式软件设计以及丰富的物理模型库和材料数据库，方便用户使用
$n 准确度测试：
$n在入射角40°~85°范围内对Si基底上SiO2薄膜样品椭偏角Psi和Delta测量值和理论拟合值如下图所示：
$n
$n可选配件：
$n NFS-SiO2/Si二氧化硅纳米薄膜标片
$n NFS-Si3N4/Si氮化硅纳米薄膜标片
$n VP01真空吸附泵
$n VP02真空吸附泵
$n 样品池

$n

栏目页面:http://www.runlian365.com/product/4516.html
光谱椭偏仪
来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200099.html
EMPro 型多入射角激光椭偏仪
型号:JX200097EM01-RD 多入射角激光椭偏仪

$n

$n特别声明：
$nEM01-RD多入射角激光椭偏仪（研发级）已升级至EMPro31 型多入射角激光椭偏仪，主要升级内容包括：
$n单次测量速度提高3倍;
$n新的仪器外形;
$n整体稳定性增强.
$n纳米薄膜高端研发领域专用的多入射角激光椭偏仪，用于纳米薄膜的厚度、折射率n、消光系数k等参数的测量。适用于光面或绒面纳米薄膜测量、块状固体参数测量、快速变化的纳米薄膜实时测量等不同的应用场合。采用量拓科技多项专利技术，仪器操作具有个性化定制功能，方便使用。
$n特点：
$n高精度、高稳定性
$n 一体化集成设计
$n快速、高精度样品方位对准
$n多入射角度测量
$n快速反应过程的实时测量
$n操作简单
$n丰富的材料库及物理模型
$n强大的数据分析和管理
$n应用领域：
$n可对纳米薄膜层构样品的薄膜厚度、折射率n及消光系数k进行快速、高精度、高准确度的测量，尤其适合于科研和工业产品环境中的新品研发
$n可用于表征单层纳米薄膜、多层纳米层构膜系，以及块状材料（基底）。
$n应用领域涉及纳米薄膜的几乎所有领域，如微电子、半导体、集成电路、显示技术、太阳电池、光学薄膜、生命科学、电化学、磁介质存储、聚合物及金属表面处理等。
$n性能保证：
$n高稳定性的He-Ne激光光源、高精度的采样方法以及低噪声探测技术，保证了系统的高稳定性和高准确度
$n.高精度的光学自准直望远系统，保证了快速、高精度的样品方位对准
$n稳定的结构设计、可靠的样品方位对准，结合先进的采样技术，保证了快速、稳定测量
$n分立式的多入射角选择，可应用于复杂样品的折射率和厚度的测量
$n一体化集成式的仪器结构设计，使得系统操作简单、整体稳定性提高，并节省空间
$n专用软件方便纳米薄膜样品的测试和建模。
$n技术指标：
$n$n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n $n

$n 激光波长 $n $n	$n 632.8nm (He-Ne laser) $n
$n 膜厚测量重复性 $n	$n 0.01nm (对于Si基底上110nm的SiO2膜层) $n
$n 折射率精度 $n	$n 1x10-4 (对于Si基底上110nm的SiO2膜层) $n
$n 光学结构 $n	$n PSCA $n
$n 激光光束直径 $n	$n <1mm $n
$n 入射角度 $n	$n 40°-90°可选，步进5° $n
$n 样品方位调整 $n	$n 三维平移调节 $n 二维俯仰调节 $n 光学自准直系统对准 $n
$n 样品台尺寸 $n	$n Φ170mm $n
$n 单次测量时间 $n	$n 0.2s $n
$n 推荐测量范围 $n	$n 0-6000nm $n
$n 外形尺寸(长x宽x高) $n	$n 887 x 332 x 552mm (入射角为70º时) $n
$n 仪器重量（净重） $n	$n 25Kg $n

$n

$n可选配件：
$nNFS-SiO2/Si二氧化硅纳米薄膜标片
$nNFS-Si3N4/Si氮化硅纳米薄膜标片
$nVP01真空吸附泵
$nVP02真空吸附泵
$n样品池
$n

$n

栏目页面:http://www.runlian365.com/product/4516.html
光谱椭偏仪
来源网址:http://www.runlian365.com/chanpin/xx-200097.html
EM01-RD 多入射角激光椭偏仪
【温馨提示】
$n本公司产品因产品种类繁多，详细配置价格请致电咨询！
$n[河北润联科技公司]——是集科研、开发、制造、经营于一体，的工程试验仪器专业制造实体。公司主要经营砼混凝土仪器,水泥试验仪器,砂浆试验仪器,泥浆试验仪器,土工试验仪器,沥青试验仪器,公路集料仪器,防水材料仪器,公路岩石仪器,路面试验仪器,压力试验机养护室仪器及实验室耗材等上百种产品。$n在以雄厚的技术底蕴在强化自主开发的同时，积极采用国内外先进技术标准，寻求推进与大专院校，科研单位的协作互补，以实现新产品开发的高起点，在交通部、建设部及科研所专家们的指导下，产品不断完善，不断更新。已广泛用于建材，建筑施工，道桥建设，水电工程和机械，交通、石油、化工等领域的质量检测。并同国内外各试验仪器厂建立了长期合作关系，严把质量关，价格更优惠！$n公司拥有现代化钢构仓库4000多平方米，并配备业内的装备设施，车辆出入方便，仓库管理实现标准化、GX化管理，确保仪器设备不断货。$n众多众多知名试验仪器及测量、测绘电子厂家直供，国内外一线知名仪器品Pai汇聚于此，更是众多新品上线网购平台的之地。全国服务队伍专业快捷服务，完善的呼叫ZX服务体系，咨询热线：[牛经理400-076-1255]迅速解决客户问题，专业提供优质GX的售后服务。$n润联为您提供详细的产品价格、产品图片等产品介绍信息，您可以直接联系厂家获取产品的具体资料，联系时请说明是在润联看到的，并告知型号
【关于合作】
$n我们本着精益求精、经销诚实守信、服务热情周到的服务宗旨和协助伙伴成就事业从而成就自己的事业的立业精神，为客戶提供的品质和服务。因产品种类多没有一一上传,如有需要,请联系我们。
【关于发货】
$n我们会在确认合作方式以及合作达成时为您发货考虑到成本的因素，我们一般采用物流发货，不过请您放心，因为我们的外地客户非常之多，基本上我们业务已经覆盖全国，所以物流公司都是我们精心筛选的，不管是发货时间，还是价格都是满意的，同时我们在交付物流公司后将在时间告知客户，并且我们会将物流费用一并告知发货打包我们都有专人严格检查商品的质量的，请放心购买。联系方式:电话:400-076-1255

信息声明：本产品供应信息由仪器网为您整合，供应商为（河北慧采科技有限公司），内容包括（白银多角度成像光谱仪|sentech椭偏仪|质量好，安全性能高）的品牌、型号、技术参数、详细介绍等；如果您想了解更多关于（白银多角度成像光谱仪|sentech椭偏仪|质量好，安全性能高）的信息，请直接联系供应商，给供应商留言！

供应商产品推荐

您可能感兴趣的产品