ESPI-B 电子散斑干涉测量实验系统
- 型号：AOD-ESPI-B
- 产地：中国大陆
- 供应商：北京爱欧德仪器设备有限公司
- 供应商报价：电议
- 标签：ESPI-B 电子散斑干涉测量实验系统,分析仪器,LIMS\\软件,供应ESPI-B 电子散斑干涉测量实验系统,北京爱欧德仪器设备有限公司
产品库
电子散斑干涉( ESPI)技术是一种非接触式全场实时测量技术 ,因其通用性强、 测量精度高、 频率范围宽及测量简便等优点 ,近年来获得了快速发展。电子散斑干涉无损检测技术可以完成位移、 应变、表面缺陷和裂纹等多种测试。
二、知识点
散斑、双光束干涉、电子散斑、散斑干涉、图像相减、相位差计算、去噪、滤波、二值化、骨骼线、三维表面、压电陶瓷特性
三、涉及课程
物理光学、光学信息预处理、信息光学、傅里叶光学、光学测量、光电检测、激光原理与技术
四、实验内容
1、 电子散斑干涉原理实验
2、 图像预处理
3、 表面三维图
4、 压电陶瓷特性研究一、产品简介
电子散斑干涉( ESPI)技术是一种非接触式全场实时测量技术 ,因其通用性强、 测量精度高、 频率范围宽及测量简便等优点 ,近年来获得了快速发展。电子散斑干涉无损检测技术可以完成位移、 应变、表面缺陷和裂纹等多种测试。
二、知识点
散斑、双光束干涉、电子散斑、散斑干涉、图像相减、相位差计算、去噪、滤波、二值化、骨骼线、三维表面、压电陶瓷特性
三、涉及课程
物理光学、光学信息预处理、信息光学、傅里叶光学、光学测量、光电检测、激光原理与技术
四、实验内容
1、 电子散斑干涉原理实验
2、 图像预处理
3、 表面三维图
4、 压电陶瓷特性研究一、产品简介
电子散斑干涉( ESPI)技术是一种非接触式全场实时测量技术 ,因其通用性强、 测量精度高、 频率范围宽及测量简便等优点 ,近年来获得了快速发展。电子散斑干涉无损检测技术可以完成位移、 应变、表面缺陷和裂纹等多种测试。
二、知识点
散斑、双光束干涉、电子散斑、散斑干涉、图像相减、相位差计算、去噪、滤波、二值化、骨骼线、三维表面、压电陶瓷特性
三、涉及课程
物理光学、光学信息预处理、信息光学、傅里叶光学、光学测量、光电检测、激光原理与技术
四、实验内容
1、 电子散斑干涉原理实验
2、 图像预处理
3、 表面三维图
4、 压电陶瓷特性研究一、产品简介
电子散斑干涉( ESPI)技术是一种非接触式全场实时测量技术 ,因其通用性强、 测量精度高、 频率范围宽及测量简便等优点 ,近年来获得了快速发展。电子散斑干涉无损检测技术可以完成位移、 应变、表面缺陷和裂纹等多种测试。
二、知识点
散斑、双光束干涉、电子散斑、散斑干涉、图像相减、相位差计算、去噪、滤波、二值化、骨骼线、三维表面、压电陶瓷特性
三、涉及课程
物理光学、光学信息预处理、信息光学、傅里叶光学、光学测量、光电检测、激光原理与技术
四、实验内容
1、 电子散斑干涉原理实验
2、 图像预处理
3、 表面三维图
4、 压电陶瓷特性研究
