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母合金精密电阻率测试仪 精密电阻率测试仪 电阻率测试仪

产品信息
硅料分选检验综合仪是我公司一款专门为拉单晶厂和多晶铸锭厂商硅料分选、检验、检测而设计研发的。它可以快速准确测量硅料的电阻率。可以检测所有类型的硅料：母合金掺杂济电阻率检测可以精确到0.0001-199.99Ω﹡㎝，及各种碎片料、米粒料、片料，块料，头尾料、埚底料、边皮料等等。
  DT304-WSP-21 母合金精密电阻率测试仪 精密电阻率测试仪 电阻率测试仪

硅料分选检验综合仪是我公司一款专门为拉单晶厂和多晶铸锭厂商硅料分选、检验、检测而设计研发的。它可以快速准确测量硅料的电阻率。可以检测所有类型的硅料：母合金掺杂济电阻率检测可以精确到0.0001-199.99Ω﹡㎝，及各种碎片料、米粒料、片料，块料，头尾料、埚底料、边皮料等等。   
产品特点：   
■电阻率测量：大屏幕清晰显示硅料电阻率值，方便检料工快速分选   
■ 电流测量：本仪器采用先进芯片技术，可通过调节硅材料厚度，仪器可直接锁定电流，使测量使用更加简便准确，本仪器可根据需要配备测试平台， 利用测试平台可以测试薄片电阻率   
■ 四探针：一次测量，显示完整电阻率值。   
■ 采用了独特的恒流源技术，能够满足宽范围的电阻率测试要求   
推荐工作条件   
■ 温度：23±2℃   
■ 湿度：60%~70%   
■ 无强磁场、不与高频设备邻近   
 技术指标:   
■ 高阻电阻率量程：0.01~199.99Ω﹡㎝　　低阻电阻率量程：0.0001~1.9999Ω﹡㎝　   
■ 高阻测量精度：精确到十分位（即精确到小数点后一位）   
   低阻测量精度：精确到千分位（即精确到小数点后四位）   
   注：低阻一般用于测量低于0.1  0Ω﹡㎝以下硅料，如母合金，高于0.1  0Ω﹡㎝一般用高阻测量。   
使用方法：   
接好电源线，将仪器接上220V交流电，供电，若无电则需要检查或更换在仪器后面的电源插头处的保险丝，规格为1A,或检查电源线是否插好。   
电阻率测量：   
低阻测试：   
1，面板高阻低阻切换拨动开关指向低阻方向，通过按动面板绿色按钮，使面板数显表小数点调到0.0000状态，测量时显示为电阻率值，   
2，校厚：四探针针头压住待测样片，根据所测硅料厚度调动按钮至所要求厚度，   
按键调动开关调动硅材料厚度，硅材料厚度小于3.98mm按实际厚度对照厚度调节按钮调节，如2.18就调到218，厚度大于3.98的都调到3。98，厚度调好后直接测试即可   
高阻测试：   
1，面板拨动开关指向高阻方向，面板数显表小数点调到000。00状态，不需按动绿色按钮。   
2，校准设备：所测硅材料厚度小于3.98mm的对照国家标准电阻率电流修正系数表来调动仪器上方电流表，根据厚度所对应的电流系数来调节电流表，厚度大于3.98mm的电流统一调到0.6283即可。   
    测试四探针笔维护：   
1一般情况下，更换钢针之类，不需要拆开探头，只需要用拔出要更换的钢针，再重新安装新针，如果断针在孔内并且不拆开难以取出，必须按照以下步骤进行操作：   
A先松开笔身尾部端侧面的固定小螺丝，轻轻脱下尾部航空插口，保证探针头部旋转时同步旋转，防止扭线断线，短接，   
B轻轻拧开探针头子，然后小心将铜片拉出，记住七片绝缘片与铜片之间的位置，（四片铜片每片见夹一片绝缘片，两边的铜片外侧各两片），将断针从铜片卡口座里取下即可，   
C特别注意一定不能将铜片取下时的位置错乱，铜片位置按照航空头四芯1234接线绿红黄黑的顺序一字排列，并且铜片之间按照宽窄顺序互相交叉排列，以免短接。   
D安装时铜片及绝缘片按照拆下时的排列轻轻塞进探针头子，并先将探针头子拧紧，再将尾部航空头插上，并且旋紧小螺丝，   
E将针装好，注意针头针尾方向，尖头为探针头部   
注意事项：   
1仪器操作前请您仔细阅读使用说明书，规范操作。   
2轻拿轻放，避免仪器震动，水平放置，垂直测量，   
3仪器不使用时请切断电源，连接线无需经常拔下，避免灰尘进入航空插引起短接等现象，   
4探针笔测试结束，套好护套，避免人为断针，

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