Mininfra Scan-T型便携式谷物面粉分析仪
- 产地:中国大陆
- 供应商:北京金恒祥仪器有限公司
- 供应商报价:电议
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Mininfra Scan-T型便携式谷物面粉分析仪 | |||
产地:匈牙利infracont 简介: 属于近红外分析仪,专门用于谷物,油籽和面粉的快速精确分析 Mininfra Scan-Tplus体积小,重量轻,非常便于携带,可以直接带到农场或地里使用。采用金属外壳,可以保障携带过程中的安全。可以使用12V供电装置,例如车载电源。 高速旋转光束对样品进行扫描,在特定长度对样品光谱进行测量。1min钟内可以完成几百个基本测量,保证测量的高精度和高再现性。 采用7"触摸显示屏,用户友好型菜单。由于仪器本身能够自动设定路径长度。 有多种样品架可供选择,可以根据谷粒的大小选择合适的样品架,目的是给不同的样品提供合适的路径长度。 技术参数: ![]()
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