View Micro-Metrology非接触式光学三坐标测量仪(VMM)是一家专业的AOI光学检测设备供应商，生产适合过程控制测量应用的全自动高精度影像三坐标测量系统和显微量测系统。
View Micro-Metrology非接触式光学三坐标测量仪以其独特的固定双倍放大倍率光学系统、的光源性能、强大灵活的软件系统、先进的机动运行控制以及非线性偏差修正技术而专长。其高速度、高精度的测量性能持续受到全世界客户的追崇，有效控制了客户的成本支出。
加工制造和装配持续朝着微型化、自动化发展，同样，检测技术也日趋要求高精度、高速度的检测测量方案。很多测量技术都能提供高精度测量，但仅有部分能把准确的测量和高产能商化于一体。然而View Micro-Metrology非接触式光学三坐标测量仪却将现代检测需要的这一苛刻检测性能要求集于一体，满足全自动高速的过程测量应用。View Micro-Metrology非接触式光学三坐标测量仪以结果证明其言行，View以其可追述至美国国家标准技术研究院NIST的可靠的性能和精度服务于世界60多个国家，以所测得数据回馈客户，将客户风险降至Z低，有效控制成本！测量仪器，View Micro-Metrology非接触式光学三坐标测量仪是您正确的选择伙伴，您会体会到与众不同的优势！
View Micro-Metrology非接触式光学三坐标测量仪适用范围：
半导体封装、
SMT组装、装配
丝网印刷、PCB
BGA&QFP、Bump on die、solder paste
引线架Leadframes、探针卡
LED封测
光纤、
photomask、MEMS
晶圆级检测、测量等应用。
View Micro-Metrology非接触式光学三坐标测量仪特点：
1976年推出世界一台高速影像测量光学三坐标；
花岗岩铸铁基底平台，稳定可靠，运动平稳；
全鼠标、手柄操作，简单易用；
亚微米分辨率
全自动寻边功能
固定双倍率光学镜头，1X/4X高低倍率瞬时切换，无需变焦，重复性高
1:10~1：50亚像素分辨率，保证高重复性和准确的弱边寻边
程控彩色环形表面光源PRL，LED轮廓光源，同轴光源，角度和方向可调控，增强表面检测性能
的Rochi自动聚焦技术，增强Z轴聚焦性能
独特的Z轴测高功能，可加装激光测头
VMS全自动可编程影像测量、数据分析软件，多种输出方式（CAD、notepad、excel）
Pinnacle 250
◆ 测量范围(XYZ)：250 x 150 x 100 mm 分辨率：0.1um
◆ 测量系统尺寸(W x D x H)：795 x 953 x 1750 mm
◆ 线性马达控制
◆ 测量精度：E2 (XY) = (2.0 + 5L/1000)um，
E1 (Z-axis) = (3.0 + 5L/1000)um
L：测量长度mm
◆ 1/10~1/50的亚像素精度, 2.5X标配镜头(低倍2.5X，高倍10X)
◆ 光源：LED背光、LED同轴表面光
◆ 承载力：25kg
适用于：微小、紧公差工件，高密度、复杂特征尺寸部件，如精密冲压件以及芯片级封装等。
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Benchmark 250 紧凑型台式系统
